Расширенный поиск

Александров А. Ф., Кузелев М. В.
   Радиофизика. Физика электронных пучков и основы высокочастотной электроники : учебное пособие для вузов / Александров А. Ф., Кузелев М. В. - М. : Университет, 2007. - 298 с. : ил. - Библиогр.: с. 297-298. - ISBN 978-5-98227-308-6.

Амрастанов А. Н., Серегина Е. В., Степович М. А.
   Оценка нагрева поверхности однородной металлической мишени электронным зондом / Амрастанов А. Н., Серегина Е. В., Степович М. А. // Известия РАН. Сер. "Физическая". - 2019. - Т. 83, № 11. - С. 1455-1460.

Баранова Л. А., Явор С. Я.
   Электростатические электронные линзы : монография / Баранова Л. А., Явор С. Я. - М. : Наука, 1986. - 190 с. : ил. - Библиогр.: с. 186-190.

Бахматов П. В., Григорьев В. В., Калугина А. А.
   Растровая электронная микроскопия как инструмент решения инженерных задач в сварке : учебное пособие / Бахматов П. В., Григорьев В. В., Калугина А. А. - М. ; Вологда : Инфра-Инженерия, 2024. - 147 с. : ил. - Библиогр.: с. 143-144. - ISBN 978-5-9729-2061-7.

Бронштейн И. М., Фрайман Б. С.
   Вторичная электронная эмиссия / Бронштейн И. М., Фрайман Б. С. - М. : Наука, 1969. - 407 с. : ил. - (Физико-математическая библиотека инженера). - Библиогр.: с. 354-407.

Брусиловский Б. А.
   Кинетическая ионно-электронная эмиссия / Брусиловский Б. А. - М. : Энергоатомиздат, 1990. - 182 с. : рис., граф. - Библиогр.: с. 178-182. - ISBN 5-283-03970-6.

Быков Ю. А., Карпухин С. Д.
   Растровая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ (аппаратура, принципы работы, применение) : учеб. пособие по курсу "Современные методы исследования структуры материалов" / Быков Ю. А., Карпухин С. Д. ; ред. Быков Ю. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2002. - 30 с. : ил. - Библиогр.: с. 29. - ISBN 5-7038-2014-6.

Власов А. И., Елсуков К. А., Косолапов И. А.
   Электронная микроскопия : учеб.-метод. комплекс по тем. направлению деятельности ННС "Наноинженерия" : учеб. пособие для вузов / Власов А. И., Елсуков К. А., Косолапов И. А. ; ред. Шахнов В. А. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2011. - 167 с. : ил. - (Библиотека "Наноинженерия" : в 17 кн. ; кн. 11). - Библиогр.: с. 160-164. - ISBN 978-5-7038-3502-9.

   Влияние дозы экспонирования на стойкость негативного электронного резиста HSQ в процессах плазмохимического и химического травления / Мягоньких А. В., Орликовский Н. А., Рогожин А. Е., Татаринцев А. А., Руденко К. В. // Микроэлектроника. - 2018. - Т. 47, № 3. - С. 179-186.

   Всесоюзная конференция по электронной микроскопии, десятая, Ташкент, 5 октября - 8 октября 1976 г. : тезисы докладов / Академия наук СССР, Научный совет по электронной микроскопии, Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова, Институт физики твёрдого тела, Академия наук Узбекской ССР, Министерство здравоохранения Узбекской ССР, Ташкентский медицинский институт, Институт биохимии, Институт ядерной физики, Институт электроники. - М., 1976.
   Т. 1. - 1976. - 388 с. : ил. - Библиогр. в конце статей.