Расширенный поиск

   Электронно-микроскопические исследования металлов и сплавов : отечественная и иностранная литература по материалам "Информация о новой технической литературе" ОНТИ и библиографии Всесоюзного общества "Знание" за 1975 (частично 1974) гг. / Всесоюзное общество "Знание". - М., 1976. - 78 л. - (Библиографический сб. / Центральная политех. б-ка. Отдел НТИ и библиогр. ; № 28/3).

   Электронно-микроскопические исследования металлов и сплавов : отечественная и иностранная литература по материалам "Информация о новой технической литературе ОНТИ и библиографии Всесоюзного общества "Знание" за 1976 (частично 1975 ) гг. / Всесоюзное общество "Знание". - М., 1977. - 128 л. - (Библиографический сб. / Центральная политех. б-ка. Отдел НТИ и библиогр. ; № 28/4).

   Электронно-микроскопические исследования металлов и сплавов : отечественная и иностранная литература по материалам "Информация о новой технической литературе" ОНТИ и библиографии Всесоюзного общества "Знание" за 1977 (частично 1976) гг. / Всесоюзное общество "Знание". - М., 1978. - 98 с. - (Библиографический сб. / Центральная политех. б-ка. Отдел НТИ и библиогр. ; № 28/5).

   Электронно-микроскопические исследования металлов и сплавов : отечественная и иностранная литература по материалам "Информация о новой технической литературе" ОНТИ и библиографии Всесоюзного общества "Знание" за 1979 (частично 1978) гг. / Всесоюзное общество "Знание". - М., 1980. - 144 л. - (Библиографический сб. / Центральная политех. б-ка. Отдел НТИ и библиогр. ; № 28/6).

   Электронно-микроскопические исследования металлов и сплавов : отечественная и иностранная литература за 1980 (частично 1979) гг. / Всесоюзное общество "Знание". - М., 1981. - 114 л. - (Библиографический сб. / Центральная политех. б-ка. Отдел НТИ и библиогр. ; № 28/7).

Комшин А. С., Обухов И. В., Сырицкий А. Б.
   Измерения параметров топографии поверхности при помощи сканирующего зондового микроскопа SOLVER P47 : метод. указания к лаб. работе по курсу "Физические основы измерений", "Квантовая метрология" / Комшин А. С., Обухов И. В., Сырицкий А. Б. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во НИИ РЛ МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2015. - 36 с. : ил. - Библиогр.: с. 36.

   Электронно-микроскопические исследования металлов и сплавов : отечественная и иностранная литература по материалам "Информация о новой технической литературе" ОНТИ и библиографии Всесоюзного общества "Знание" за 1980 (частично) - 1981 гг. / Всесоюзное общество "Знание". - М., 1982. - 157 л. - (Библиографический сб. / Центральная политех. б-ка. Отдел НТИ и библиогр. ; № 28/8).

   Электронно-микроскопические исследования металлов и сплавов : отечественная и иностранная литература по материалам "Информация о новой технической литературе" ОНТИ и библиографии Всесоюзного общества "Знание" за 1982 (частично 1981) гг. / Всесоюзное общество "Знание". - М., 1984. - 114 л. - (Библиографический сб. / Центральная политех. б-ка. Отдел НТИ и библиогр. ; № 28/9).

   Электронно-микроскопическое исследование металлов и сплавов : отечественная и иностранная литература по информационным техническим материалам ОНТИ и библиографии Всесоюзного общества "Знание" за 1983 (частично 1982) гг. / Всесоюзное общество "Знание". - М., 1984. - 87 л. - (Библиографический сб. / Центральная политех. б-ка. Отдел НТИ и библиогр. ; № 28/10). - Библиогр.: л. 87.

   Проблемы линейных измерений микрообъектов в нанометровом и субмикронном диапазонах / Российская академия наук ; отв. ред. Раков А. В. - М. : Наука, 1995. - 162 с. - (Труды / Институт общей физики ; т. 49). - Библиогр. в конце статей. - ISBN 5-02-000828-1.