42 записи
Бахматов П. В., Григорьев В. В., Калугина А. А.
Растровая электронная микроскопия как инструмент решения инженерных задач в сварке : учебное пособие / Бахматов П. В., Григорьев В. В., Калугина А. А. - М. ; Вологда : Инфра-Инженерия, 2024. - 147 с. : ил. - Библиогр.:с. 143-144 . - ISBN 978-5-9729-2061-7 .
Растровая электронная микроскопия как инструмент решения инженерных задач в сварке : учебное пособие / Бахматов П. В., Григорьев В. В., Калугина А. А. - М. ; Вологда : Инфра-Инженерия, 2024. - 147 с. : ил. - Библиогр.:
Щука, А. А. Электроника в 4 ч. Часть 1. Вакуумная и плазменная электроника : учебник для вузов / А. А. Щука, А. С. Сигов ; под редакцией А. С. Сигова. — 2-е изд., испр. и доп. — Москва : Издательство Юрайт, 2025. — 172 с. — (Высшее образование). — ISBN 978-5-534-01763-2.
Морозова, К. Н. Основы электронной микроскопии : учебное пособие для вузов / К. Н. Морозова. — 2-е изд. — Москва : Издательство Юрайт, 2022. — 84 с. — (Высшее образование). — ISBN 978-5-534-14415-4.
Рид С. Дж. Б.
Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии / Рид С. Дж. Б. ; пер. с англ. Петрова Д. Б., Романенко И. М., Ревенко В. А. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2008. - 229 с., [8] с. фот. : ил. - (Мир наук о земле). -ISBN 978-5-94836-177-2 .
Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии / Рид С. Дж. Б. ; пер. с англ. Петрова Д. Б., Романенко И. М., Ревенко В. А. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2008. - 229 с., [8] с. фот. : ил. - (Мир наук о земле). -
Сканирующая электронная микроскопия и рентгено-спектральный микроанализ в примерах практического применения : учеб. пособие для вузов / Криштал М. М., Ясников И. С., Полунин В. И. [и др.]. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2009. - 206 с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-94836-200-7 .
Пономаренко В. П., Филачев А. М.
Инфракрасная техника и электронная оптика. Становление научных направлений (1946 - 2006) / Пономаренко В. П., Филачев А. М. - 2-е изд., стер. - М. : Физматкнига, 2008. - 334 с. : ил. - Библиогр.:с. 319-321 . - ISBN 978-5-89155-175-6 .
Инфракрасная техника и электронная оптика. Становление научных направлений (1946 - 2006) / Пономаренко В. П., Филачев А. М. - 2-е изд., стер. - М. : Физматкнига, 2008. - 334 с. : ил. - Библиогр.:
Соколова О. С., Богданов А. Г., Гризель А. В.
Электронная микроскопия нанообъектов : учебно-метод. комплекс для магистров / Соколова О. С., Богданов А. Г., Гризель А. В. - М. : НОУДПО "Институт АйТи", 2011. - 140 с., [2] с. рис. : ил. -ISBN 978-5-98453-042-2 .
Электронная микроскопия нанообъектов : учебно-метод. комплекс для магистров / Соколова О. С., Богданов А. Г., Гризель А. В. - М. : НОУДПО "Институт АйТи", 2011. - 140 с., [2] с. рис. : ил. -
Власов А. И., Елсуков К. А., Косолапов И. А.
Электронная микроскопия : учеб.-метод. комплекс по тем. направлению деятельности ННС "Наноинженерия" : учеб. пособие для вузов / Власов А. И., Елсуков К. А., Косолапов И. А. ; ред. Шахнов В. А. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2011. - 167 с. : ил. - (Библиотека "Наноинженерия" : в 17 кн. ; кн. 11). - Библиогр.:с. 160-164 . - ISBN 978-5-7038-3502-9 .
Электронная микроскопия : учеб.-метод. комплекс по тем. направлению деятельности ННС "Наноинженерия" : учеб. пособие для вузов / Власов А. И., Елсуков К. А., Косолапов И. А. ; ред. Шахнов В. А. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2011. - 167 с. : ил. - (Библиотека "Наноинженерия" : в 17 кн. ; кн. 11). - Библиогр.:
Сканирующая зондовая микроскопия биополимеров / ред. Яминский И. В. - М. : Научный мир : Центр перспективных технологий, 1997. - 87 с. : ил. - (Сканирующая зондовая микроскопия ; вып. 1). - Библиогр. в конце статей . - ISBN 5-89176-031-2 .
Справочник по микроскопии для нанотехнологии : пер. с англ. / ред. Нан Яо, Чжун Лин Ван ; МГУ им. М. В. Ломоносова. Науч. -образоват. центр по нанотехнологиям ; науч. ред. Яминский И. В. - М. : Научный мир, 2011. - 711 с., [6] л. ил. : ил. - (Фундаментальные основы нанотехнологий. Справочники). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-91522-232-7 .