Расширенный поиск

   Потеря тяги в двигателях с анодным слоем за счет азимутальной закрутки ионов / Воробьев Е. В., Духопельников Д. В., Ивахненко С. Г., Марахтанов М. К. // Вестник МГТУ им. Н. Э. Баумана. Сер. Машиностроение. - 2011. - Спец. вып. Ионно-плазменные технологии. - С. 58-63.

   Проблемы линейных измерений микрообъектов в нанометровом и субмикронном диапазонах / Российская академия наук ; отв. ред. Раков А. В. - М. : Наука, 1995. - 162 с. - (Труды / Институт общей физики ; т. 49). - Библиогр. в конце статей. - ISBN 5-02-000828-1.

   Процессы формирования скользящего разряда на диэлектрических подложках с потенциальным барьером / Шорин В. П., Журавлев О. А., Федосов А. И., Марков В. П. - М. : Логос, 2000. - 151 с. : ил. - Библиогр.: с. 141-151. - ISBN 5-88439-127-7.

Райзер Ю. П.
   Физика газового разряда / Райзер Ю. П. - М. : Наука, 1987. - 590 с. - Библиогр.: с. 582-587.

Райзер Ю. П.
   Физика газового разряда : учебное руководство / Райзер Ю. П. - 2-е изд., перераб. и доп. - М. : Наука, 1992. - 535 с. : ил. - Библиогр.: с. 528-534. - ISBN 5-02-014615-3.

Райзер Ю. П.
   Физика газового разряда : [монография] / Райзер Ю. П. - 3-е изд., перераб. и доп. - Долгопрудный : Интеллект, 2009. - 734 с. : ил. - Библиогр.: с. 725-734. - ISBN 978-5-91559-019-8.

Райзер Ю. П., Шнейдер М. Н., Яценко Н. А.
   Высокочастотный ёмкостный разряд. Физика. Техника эксперимента. Приложения : учебное пособие для вузов / Райзер Ю. П., Шнейдер М. Н., Яценко Н. А. - М. : Наука. Физматлит : Изд-во МФТИ, 1995. - 310 с. - Библиогр.: с. 299-310. - ISBN 5-7417-0006-3. - ISBN 5-02-015184-X.

   Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение : [монография] / Андерхальт Р., Анзалоне П., Апкариан П. Р. [и др.] ; ред. Жу У., Жонг Лин Уанг ; пер. с англ. Иванов С. А., Домкин К. И. ; ред. пер. Каминская Т. П. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2013. - 582 с., [8] л. ил. : ил. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-9963-1110-1.

   Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение : [монография] / Андерхальт Р., Анзалоне П., Апкариан П. Р. [и др.] ; ред. Уэйли Жу, Жонг Лин Уанга ; пер. с англ. Иванов С. А., Домкин К. И. ; ред. пер. Каминская Т. П. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2016. - 582 с. : ил. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-9963-1110-1.

   Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение : [монография] / Андерхальт Р., Анзалоне П., Апкариан П. Р. [и др.] ; ред. Жу У., Жонг Лин Уанг ; пер. с англ. Иванов С. А., Домкин К. И. ; ред. пер. Каминская Т. П. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2018. - 582 с., [8] л. ил. : ил. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-9963-1110-1.