Расширенный поиск

Зуев Э. Н.
   Основы техники подземной передачи электроэнергии : учебное пособие для вузов / Зуев Э. Н. - Москва : Энергоатомиздат, 1999. - 253 с. : ил. - Библиогр.: с.251-253. - ISBN 5-283-01243-3.

Иванов И. Н.
   Снижение диэлектрических потерь в высоковольтных трансформаторах напряжения / Иванов И. Н. // Вопросы управления процессами : сборник статей / МВТУ им. Н. Э. Баумана. - 1974. - Ч. 3 / ред. Нитусов Ю. Е. - С. 100-105.

Иванова О. А.
   Математическое моделирование аэроупругих колебаний провода линии электропередачи : автореф. дис... кф-мн : 05.13.18 / Иванова О. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - Москва, 2013. - 16 с.

Иванова О. А.
   Математическое моделирование аэроупругих колебаний провода линии электропередачи : дис... кф-мн : 05.13.18 / Иванова О. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - Москва, 2013. - 142 л. - Библиогр.: л.131-142.

   Изучение возможностей использования электроннозондовых методов для субмикронной диагностики материалов и структур электронной техники : отчёт о НИР (заключительный) / МГТУ им. Н. Э. Баумана, Калужский филиал ; рук. темы Степович М. А. - Москва, 2003. - 140 л. - Библиогр.: л.130-140. - Шифр Т00-2.2-852. - ГР 01200110405. - Инв. № 02.20.0303192.

Иойшер А. М., Котрубенко Б. П.
   Полупроводниковые и полуметаллические микропровода : монография / Иойшер А. М., Котрубенко Б. П. ; АН МССР ; ред. Бодюл П. П. - Кишинёв : Штиинца, 1989. - 112 с. : рис., граф. - Библиогр.: с.104-112. - ISBN 5-376-00086-9.

   Исследование и разраб. катодолюминесцентного метода диагностики локальных электрофизич. параметров полупроводников : отчет о НИР (заключ.) / МГТУ. Фил. в Калуге ; рук. темы Степович М. А. - Москва, 2000. - 65 л.

   Исследование методами компьютерного моделирования наноскопических характеристик композиционных материалов / Коржавый А. П., Логинов Б. М., Логинова М. Б., Белов Ю. С., Рыбкин С. В. // Наукоемкие технологии. - 2017. - Т. 18, № 2. - С. 53-63.

   Исследование механических характеристик однослойных и многослойных наноструктур на основе углеродных и фторуглеродных покрытий / Елинсон В. М., Щур П. А., Кириллов Д. В., Лямин А. Н., Сильницкая О. А. // Поверхность: рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2018. - № 4. - С. 69-73.

   Исследование оптических свойств GaAs, выращенного методом молекулярно-лучевой эпитаксии при низких температурах роста, с delta-легированными слоями Si / Лаврухин Д. В., Ячменев А. Э., Бугаев А. С., Галиев Г. Б., Климов Е. А., Хабибуллин Р. А., Пономарев Д. С., Мальцев П. П. // Физика и техника полупроводников. - 2015. - Т. 49, № 7. - С. 932-935.