Расширенный поиск

   Влияние облучения жидкой фазы наносекундными электромагнитными импульсами на ее строение, процессы кристаллизации, структурообразования и свойства литейных сплавов / Ри Э. Х., Ри Хосен, Дорофеев С. В., Якимов В. И. ; Тихоокеанский гос. ун-т, Ин-т материаловедения ДВО РАН. - Владивосток : Дальнаука, 2008. - 176 с. : ил. - Библиогр.: с. 171-174. - ISBN 978-5-8044-0854-2.

Белов Ю. С.
   Моделирование процессов взаимодействия краевых дислокационных петель со свободной поверхностью : дис... кф-мн : 01. 04. 07 / Белов Ю. С. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана, Калужский филиал. - Калуга, 2009. - 136 л. - Библиогр.: л. 127-136.

Шульгин Б. В., Черепанов А. Н., Шульгин Д. Б.
   Новые детекторные материалы и устройства : [монография] / Шульгин Б. В., Черепанов А. Н., Шульгин Д. Б. ; ред. Кружалов А. В. - М. : Физматлит, 2009. - 359 с. : ил. - ISBN 978-5-9221-1109-6.

Дюррани С., Балл Р.
   Твердотельные ядерные детекторы / Дюррани С., Балл Р. ; пер. с англ. Перелыгин В. П. - М. : Энергоатомиздат, 1990. - 263 с. : рис., граф. - Библиогр.: с. 234-263. - ISBN 5-283-02463-6.

Болоздыня А. И., Ободовский И. М.
   Детекторы ионизирующих частиц и излучений. Принципы и применения : [учебное пособие] / Болоздыня А. И., Ободовский И. М. - Долгопрудный : Интеллект, 2012. - 204 с. : ил. - Библиогр.: с. 202-204. - ISBN 978-5-91559-105-8.

Таперо К. И., Диденко С. И.
   Основы радиационной стойкости изделий электронной техники. Радиационные эффекты в изделиях электронной техники : учебное пособие для вузов / Таперо К. И., Диденко С. И. ; Нац. исслед. технол. ун-т "МИСиС". - М. : Изд. Дом МИСиС, 2013. - 348 с. : ил. - Библиогр.: с. 346-348. - ISBN 978-5-87623-661-6.

Никифоров С. В., Кортов В. С.
   Радиационно-индуцированные процессы в широкозонных нестехиометрических оксидных диэлектриках : монография / Никифоров С. В., Кортов В. С. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2017. - 271 с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 227-259. - ISBN 978-5-94836-490-2.

Барабанов В. Ф., Пашковский М. Е., Подвальный С. Л.
   Оперативная оценка стойкости полупроводниковых изделий к локальным радиационным эффектам : монография / Барабанов В. Ф., Пашковский М. Е., Подвальный С. Л. - Воронеж : Научная книга, 2012. - 128 с. : ил. - Библиогр.: с. 125-128. - ISBN 978-5-98222-775-1.

   Воздействие ионизирующего излучения в электронике. От схем памяти до формирователей изображений / ред. Багатин М., Жерарден С. ; пер. с англ. Шашков А. А. - М. : Техносфера, 2023. - 501 с. : ил. - (Мир радиоэлектроники). - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-94836-599-2.

Хала И., Навратил Дж. Д.
   Радиоактивность, ионизирующее излучение и ядерная энергетика / Хала И., Навратил Дж. Д. ; Пер. с англ. и ред. пер. Мясоедов Б. Ф., Калмыков С. Н. - М. : URSS : Изд-во ЛКИ, 2013. - 428 с. - Библиогр. в коце гл. - ISBN 978-5-382-01379-4.