256 записей
Стерлинг Л. Дж. мл., Бакстер Л.
Кабельные системы / Стерлинг Л. Дж. мл., Бакстер Л. ; пер. с англ. Орлов С. - 2-е изд. - М. : Лори, 2003. - 313 с. : ил. - Библиогр.:с. 312-313 . - ISBN 5-85582-181-1 .
Кабельные системы / Стерлинг Л. Дж. мл., Бакстер Л. ; пер. с англ. Орлов С. - 2-е изд. - М. : Лори, 2003. - 313 с. : ил. - Библиогр.:
Статья
Стойкость к биодеструкции нанокомпозитных материалов на основе хитозана / Нестеров С. Б., Нежметдинова Р. А., Елинсон В. М., Жуховицкий В. Г. // Наноинженерия. - 2013. - № 1. - С. 37-39 .
Автореферат диссертации
Столяров М. А.
Исследование процессов инжекционной модификации в структурах металл-диэлектрик-полупроводник и приборах на их основе : автореф. дис... ктн : 01. 04.-7 / Столяров М. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. Калужский филиал. - М., 2007. - 16 с.
Исследование процессов инжекционной модификации в структурах металл-диэлектрик-полупроводник и приборах на их основе : автореф. дис... ктн : 01. 04.-7 / Столяров М. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. Калужский филиал. - М., 2007. - 16 с.
Диссертация
Столяров М. А.
Исследование процессов инжекционной модификации в структурах металл-диэлектрик-полупроводник и приборах на их основе : дис... ктн : 01. 04. 07 / Столяров М. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. Калужский фил. - Калуга, 2007. - 163 л. - Библиогр.:л. 147-162 .
Исследование процессов инжекционной модификации в структурах металл-диэлектрик-полупроводник и приборах на их основе : дис... ктн : 01. 04. 07 / Столяров М. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. Калужский фил. - Калуга, 2007. - 163 л. - Библиогр.:
Субмикронная катодолюминесцентная диагностика прямозонных материалов полупроводниковой оптоэлектроники : отчет о НИР (промежут.) / МГТУ. Фил. в Калуге ; рук. темы Степович М. А. - М., 2000. - 106 л.
Отчёт о НИР
Субмикронная катодолюминесцентная диагностика прямозонных материалов полупроводниковой оптоэлектроники : отчёт о НИР (заключительный) / МГТУ им. Н. Э. Баумана. Калужский фил. ; рук. нир Степович М. А. - М., 2001. - 69 л. - Библиогр.: л. 65-69 . - Шифр ОК-ФН3-00Ф . - ГР 01200002393 . - Инв. № 02.2.00104557 .
Отчёт о НИР
Субмикронная электроннозондовая диагностика материалов и структур микро- и наноэлектроники : отчёт о НИР (заключительный) / МГТУ им. Н. Э. Баумана. Калужский фил. ; рук. темы Степанович М. А. - М., 2003. - 96 л. - Библиогр.: л. 89-97 . - Шифр ОК-ФН3-02Ф . - Инв. № 02.20.0302542 .
Таиров Ю. М., Цветков В. Ф.
Технология полупроводниковых и диэлектрических приборов : учебник для вузов / Таиров Ю. М., Цветков В. Ф. - 3-е изд., стер. - СПб. : Лань, 2002. - 422 с. : ил. - (Учебники для вузов. Специальная литература). - Библиогр.:с. 418 . - На обл. заглавие: Технология полупроводниковых и диэлектрических материалов. - ISBN 5-8114-0438-7 .
Технология полупроводниковых и диэлектрических приборов : учебник для вузов / Таиров Ю. М., Цветков В. Ф. - 3-е изд., стер. - СПб. : Лань, 2002. - 422 с. : ил. - (Учебники для вузов. Специальная литература). - Библиогр.:
Тареев Б. М.
Электротехнические материалы : учеб. пособие / Тареев Б. М. - 5-е изд., перераб. - М. ; Л. : Госэнергоиздат, 1955. - 256 с. - Библиогр.:с. 252-253 .
Электротехнические материалы : учеб. пособие / Тареев Б. М. - 5-е изд., перераб. - М. ; Л. : Госэнергоиздат, 1955. - 256 с. - Библиогр.: