Расширенный поиск

Евсеев М. Е.
   Теоретические основы электротехники : учебное пособие для вузов / Евсеев М. Е. - СПб. : Политехника, 2008. - 378 с. : ил. - (Учебное пособие для вузов). - Библиогр.: с.375. - ISBN 978-5-7325-0273-2.

Евтихиев Н. Н., Тарасов В. П.
   Методы и средства приема сигналов с использованием квадратурных фильтров : учеб. пособие / Евтихиев Н. Н., Тарасов В. П. ; Московский ин-т радиотехники, электроники и автоматики (МИРЭА). - Москва, 1992. - 49 с.

Евтушенко Г. С., Шиянов Д. В., Губарев Ф. А.
   Лазеры на парах металлов с высокими частотами следования импульсов : монография / Евтушенко Г. С., Шиянов Д. В., Губарев Ф. А. ; Национальный исследовательский Томский государственный университет. - Томск : Изд-во Томского политехнического университета, 2010. - 275 с. : ил. - Библиогр.: с.244-270. - ISBN 978-5-98298-713-6.

Евтянов С. И.
   Избранные статьи / Евтянов С. И. ; сост. Кулешов В. Н. - Москва : Издательский дом МЭИ, 2013. - 304 с. : ил. - Библиогр.: с.300-303. - ISBN 978-5-383-00870-6.

Егоров А. И., Ершов Ю. А., Змиевской Г. Н.
   Разработка математической модели разогрева тканей миокарда лазерном облучении / Егоров А. И., Ершов Ю. А., Змиевской Г. Н. // Медико-технические технологии на страже здоровья. ("МЕДТЕХ-2016") : сборник трудов 18-ой научно-техн. конф., Москва, 22-23 ноября 2016 г. / МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2016. - С. 136-138.

Егоров В. В.
   Влияние микронеровностей поверхности на характеристики изображений в оптических прецизионных измерителях. Скалярное приближение. Часть 1. / Егоров В. В. // Нано- и микросистемная техника. - 2009. - № 3. - С. 36-44.

Егоров В. В.
   Влияние микронеровностей поверхности на характеристики изображений в оптических прецизионных измерителях. Скалярное приближение. Часть II. / Егоров В. В. // Нано- и микросистемная техника. - 2009. - № 4. - С. 26-31.

Егоров В. К., Проценко Е. Д.
   Лабораторный практикум "Лазер на рубине" : учебное пособие для вузов / Егоров В. К., Проценко Е. Д. ; Московский инженерно-физ. ин-т (гос. ун-т). - Москва : Изд-во МИФИ, 2008. - 110 с. - Библиогр.: с.75. - ISBN 978-5-7262-0971-5.

Егоров В. К., Стариков Р. С.
   Измерение когерентности лазерного излучения : учебное пособие и описание лабораторной работы / Егоров В. К., Стариков Р. С. ; Московский инженерно-физ. ин-т (гос. ун-т). - Москва : Изд-во МИФИ, 2008. - 75 с. : ил. - (Инженерно-физический практикум). - Библиогр.: с.75. - ISBN 978-5-7262-0966-1.

Егоров С. И., Маркарян Г.
   Повышение эффективности исправления ошибок помехоустойчивыми кодами Рида-Соломона в цифровых телекоммуникационных каналах / Егоров С. И., Маркарян Г. // Телекоммуникации. - 2005. - № 10. - С. 2-8.