Расширенный поиск

Антонов А. А.
   Разработка комплекса технических и методических средств для оценки уровня остаточных напряжений в сварных магистральных трубопроводах методом лазерной интерферометрии : автореф. дис... дтн : 05. 02. 11 : 05. 02. 10 / Антонов А. А. ; Российский гос. ун-т нефти и газа им. И. М. Губкина. - М., 2019. - 32 с.

Гладышева Я. В.
   Метод и аппаратура динамической интерферометрии для контроля качества поверхности крупногабаритных оптических деталей : дис... ктн : 05. 11. 07 / Гладышева Я. В. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана (Национальный исследовательский университет). - М., 2019. - 167 л. : ил. - Библиогр.: л. 159-167.

Гладышева Я. В.
   Метод и аппаратура динамической интерферометрии для контроля качества поверхности крупногабаритных оптических деталей : автореф. дис... ктн : 05. 11. 07 / Гладышева Я. В. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана (Национальный исследовательский университет). - М., 2019. - 16 с. : ил.

Баранов А. В., Давыдков В. В.
   Волновая оптика. Компьютерный практикум по физике : учебное пособие / Баранов А. В., Давыдков В. В. - Новосибирский государственный технический университет, 2021. - ISBN 978-5-7782-4527-3.

Морозов А. Н.
   Математическое моделирование стохастических процессов в высокодобротных системах : 05. 13. 16 : автореф. дис... дфмн / Морозов А. Н. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 1994. - 28 с.

Морозов А. Н.
   Математическое моделирование стохастических процессов в высокодобротных системах : 05. 13. 16 : дис... дфмн / Морозов А. Н. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 1994. - 274 л. - Библиогр.: л. 257-274.

Золотаревский С. Ю.
   Обеспечение единства измерений геометрических параметров шероховатости поверхностей в нанометровом диапазоне методами интерферометрии высокого разрешения : автореф. дис... дтн : 05. 11. 15 / Золотаревский С. Ю. ; Всерос. НИИ метрологической службы. - М., 2015. - 32 с. : ил.

Золотаревский С. Ю.
   Обеспечение единства измерений геометрических параметров шероховатости поверхностей в нанометровом диапазоне методами интерферометрии высокого разрешения : дис... дтн : 05. 11. 15 / Золотаревский С. Ю. ; Всерос. НИИ метрологической службы. - М., 2015. - 328 л. : ил. - Библиогр.: л. 299-321.

Золотаревский С. Ю.
   Метрологическое обеспечение параметров шероховатости поверхностей в нанометровом диапазоне методами интерферометрии высокого разрешения : [учебное пособие] / Золотаревский С. Ю. ; ред. Киселев М. И. - М. : Университетская книга, 2016. - 197 с. : ил. - Библиогр.: с. 186-197. - ISBN 978-5-98699-198-6.

Румянцев К. Е., Shakir H. H.
   Проектирование системы квантового распределения ключа с интерферометрами Маха − Цендера : учебное пособие / Румянцев К. Е., Shakir H. H. - Издательство Южного федерального университета, 2020. - ISBN 978-5-9275-3560-6.