Расширенный поиск

Потапов А. А.
   Принципы проектирования наносистем / Потапов А. А. // Нано- и микросистемная техника. - 2008. - № 3. - С. 5-12.

Прагер В.
   Проблемы теории пластичности / Прагер В. ; пер. с нем. Смирнов А. И. ; ред. пер. Григолюк Э. И. - Москва : Физматгиз, 1958. - 136 с. : ил.

Праттон М.
   Введение в физику поверхности / Праттон М. ; пер. с англ. Кормилец В. И. ; ред. пер. Трапезников В. А. - Москва ; Ижевск : Изд-во Научно-издательского центра "Регулярная и хаотическая динамика", 2000. - 256 с. : ил. - Библиогр.: с.230-242. - ISBN 5-93972-010-2.

   Прецизионный рентгендифракционный эксперимент : [учебное пособие] / Асланов Л. А., Фетисов Г. В., Лактионов А. В. [и др.] ; ред. Асланов Л. А. - Москва : Изд-во Московского университета, 1989. - 218 с. : рис., граф. - Библиогр. в конце тем. - ISBN 5-211-01213-5.

   Проводимость полупроводниковой пленки на сегнетоэлектрической подложке / Агасиев А. А., Паханов М. М., Мамедов М. З., Сармасов С. Н. // Нано- и микросистемная техника. - 2007. - № 2. - С. 22-24.

   Прогнозирование физико-механических свойств углеродосодержащих полимерных композитов с учетом адгезионного взаимодействия / Зверев М. А., Суриков Вал. И., Кропотин О. В., Суриков Вад. И. // Материаловедение. - 2008. - № 9. - С. 2-5.

Пушкаров Д. И.
   Дефектоны в кристаллах. Метод квазичастиц в квантовой теории дефектов / Пушкаров Д. И. - Москва : Наука, 1993. - 136 с. : рис. - (Современные проблемы физики). - Библиогр.: с.133-136. - ISBN 5-02-014628-5.

   Радиационная стойкость наноструктур // Нано- и микросистемная техника. - 2008. - № 9. - С. 2-11.

   Развитие метода селективного удаления атомов применительно к изготовлению многослойных микро-и наноразмерных паттернированных сред различного назначения / Гурович Б. А., Кулешова Е. А., Приходько К. Е., Домантовский А. Г., Маслаков К. И. // Нано- и микросистемная техника. - 2007. - № 4. - С. 2-10.

   Разработка каталитических систем газовых сенсоров на основе наноматериалов и твердых электролитов / Вершинин Н. Н., Алейников Н. Н., Бакаев В. А., Ефимов О. Н. // Российские нанотехнологии. - 2008. - Т. 3, № 5-6. - С. 39-41.