Расширенный поиск

Косенков В. М.
   Рентгенография в реакторном материаловедении / Косенков В. М. ; Ульяновский государственный университет. - 2-е изд., перераб. и доп. - Ульяновск, 2006. - 167 с. : ил. - Библиогр.: с.160-167. - ISBN 5-88868-253-4.

Лисойван В. И., Громилов С. А.
   Аспекты точности в дифрактометрии поликристаллов : монография / Лисойван В. И., Громилов С. А. ; Академия наук СССР, СО, Институт неорганической химии. - Новосибирск : Наука, СО, 1989. - 239 с. : ил., табл. - Библиогр.: с.224-239. - ISBN 5-02-028687-7.

   Моделирование свойств кристаллической решетки / Задорожный Н. А., Тимченко С. Л., Винтайкин Б. Е., Быков С. Д., Мараков В. Д. // Современный физический практикум : сборник трудов XIV Международной учебно-методической конференции, Москва, 27-29 сент. 2016 г. / РАН, Физический институт им. П. Н. Лебедева РАН, Национальный исследовательский университет, МГТУ им. Н. Э. Баумана, Московское физическое общество ; ред. Калачёв Н. В., Шапочкин М. Б. - М., 2016. - С. 38-39.

Нахмансон М. С., Фекличев В. Г.
   Диагностика состава материалов рентгенодифракционными и спектральными методами / Нахмансон М. С., Фекличев В. Г. - Ленинград : Машиностроение, Ленингр. отд-ние, 1990. - 357 с. : рис., табл., граф. - Библиогр.: с.345-355. - ISBN 5-217-00915-2.

   Особенности применения методов рентгеноструктурного анализа в исследовании материалов / Ковалёв А. А., Тищенко Л. А., Шашурин В. Д., Галиновский А. Л. // Технология металлов. - 2017. - № 7. - С. 2-11.

Порай-Кошиц М. А.
   Практический курс рентгеноструктурного анализа : учеб. пособие для ун-тов / Порай-Кошиц М. А. ; ред. Бокия Г. Б. - Москва : Изд-во Московского университета, 1960.
   Т. 2. - 1960. - 631 с. : ил.

   Прецизионный рентгендифракционный эксперимент : [учебное пособие] / Асланов Л. А., Фетисов Г. В., Лактионов А. В. [и др.] ; ред. Асланов Л. А. - Москва : Изд-во Московского университета, 1989. - 218 с. : рис., граф. - Библиогр. в конце тем. - ISBN 5-211-01213-5.

   Рентгеноспектральный метод изучения структуры аморфных тел: EXAFS-спектроскопия : монография / Кочубей Д. И., Бабанов Ю. А., Замараев К. И. [и др.] ; АН СССР, СО, Ин-т катализа ; отв. ред. Жидомиров Г. М. - Новосибирск : Наука, СО, 1988. - 302 с. : рис., табл. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 5-02-029190-0.

Русов В. Д., Бабикова Ю. Ф., Ягола А. Г.
   Восстановление изображений в электронно-микроскопической авторадиографии поверхности / Русов В. Д., Бабикова Ю. Ф., Ягола А. Г. - Москва : Энергоатомиздат, 1991. - 213 с. : ил. - Библиогр.: с.207-212. - ISBN 5-283-03046-6.

Сатдарова Ф. Ф.
   Дифракционный анализ деформированных металлов. Теория, методика, программное обеспечение : монография / Сатдарова Ф. Ф. - Москва : РИОР : ИНФРА-М, 2018. - 203 с. : ил. - (Научная мысль). - Библиогр.: с.194-201. - ISBN 978-5-369-01527-8. - ISBN 978-5-16-011559-7. - ISBN 978-5-16-104139-0.