1946 записей
Дьяконов В. П.
Сверхскоростная твердотельная электроника / Дьяконов В. П. - М. : ДМК, 2013.
Т. 1 : Приборы общего назначения. - 2013. - 599 с. : ил. - Библиогр.:с.583-599 . - ISBN 978-5-94074-915-8 .
Сверхскоростная твердотельная электроника / Дьяконов В. П. - М. : ДМК, 2013.
Т. 1 : Приборы общего назначения. - 2013. - 599 с. : ил. - Библиогр.:
Дьяконов В. П.
Сверхскоростная твердотельная электроника / Дьяконов В. П. - М. : ДМК, 2013.
Т. 2 : Приборы специального назначения. - 2013. - 575 с. : ил. - Библиогр.:с.557-575 . - ISBN 978-5-94074-926-4 .
Сверхскоростная твердотельная электроника / Дьяконов В. П. - М. : ДМК, 2013.
Т. 2 : Приборы специального назначения. - 2013. - 575 с. : ил. - Библиогр.:
Аналитическое описание
Дюбанов В. А., Панфилова Е. В.
Моделирование и тепловой анализ коллоидной системы в процессе осаждения фотонно-кристаллических пленок / Дюбанов В. А., Панфилова Е. В. // Технологии разработки и отладки сложных технических систем : материалы 9-ой Всероссийской научно-практическойя конференции, Москва, 5-6 апреля 2023 года : в 2 т. / МГТУ им. Н. Э. Баумана, Центр инженерных технологий и моделирования "Экспонента". - 2024. - Т. 1. -С. 173-179 .
Моделирование и тепловой анализ коллоидной системы в процессе осаждения фотонно-кристаллических пленок / Дюбанов В. А., Панфилова Е. В. // Технологии разработки и отладки сложных технических систем : материалы 9-ой Всероссийской научно-практическойя конференции, Москва, 5-6 апреля 2023 года : в 2 т. / МГТУ им. Н. Э. Баумана, Центр инженерных технологий и моделирования "Экспонента". - 2024. - Т. 1. -
Аналитическое описание
Дягилева А. В.
Двухлинзовые объективы для лазерных интерферометров / Дягилева А. В. // Расчёты оптических систем и фотокиноаппаратуры : сборник статей / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; ред. Заказнов Н. П. - М., 1980. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 328). -С. 130-138 .
Двухлинзовые объективы для лазерных интерферометров / Дягилева А. В. // Расчёты оптических систем и фотокиноаппаратуры : сборник статей / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; ред. Заказнов Н. П. - М., 1980. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 328). -
Статья в журнале
Егоров В. В.
Влияние микронеровностей поверхности на характеристики изображений в оптических прецизионных измерителях. Скалярное приближение. Часть 1. / Егоров В. В. // Нано- и микросистемная техника. - 2009. - № 3. -С. 36-44 .
Влияние микронеровностей поверхности на характеристики изображений в оптических прецизионных измерителях. Скалярное приближение. Часть 1. / Егоров В. В. // Нано- и микросистемная техника. - 2009. - № 3. -
Егорова С. Д., Колесник В. А.
Оптико-электронное цифровое преобразование изображений / Егорова С. Д., Колесник В. А. - Москва : Радио и связь, 1991. - 207 с. : рис. - Библиогр.:с.202-205 . - ISBN 5-256-00889-7 .
Оптико-электронное цифровое преобразование изображений / Егорова С. Д., Колесник В. А. - Москва : Радио и связь, 1991. - 207 с. : рис. - Библиогр.:
Ежов В. Б., Перельман Б. Л.
Отечественные полупроводниковые приборы и зарубежные аналоги : справочник / Ежов В. Б., Перельман Б. Л. - Москва : "НТЦ МИКРОТЕХ", 2005. - 180 с. -ISBN 5-85823-010-5 .
Отечественные полупроводниковые приборы и зарубежные аналоги : справочник / Ежов В. Б., Перельман Б. Л. - Москва : "НТЦ МИКРОТЕХ", 2005. - 180 с. -
Аналитическое описание
Еланцев А. В., Маркелов В. В.
Автоматизированное проектирование контролепригодной электронной аппаратуры / Еланцев А. В., Маркелов В. В. // Автоматизированное проектирование конструкций электронной аппаратуры : сборник статей / ред. Белов Б. И. - М., 1989. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 532). -С. 119-140 .
Автоматизированное проектирование контролепригодной электронной аппаратуры / Еланцев А. В., Маркелов В. В. // Автоматизированное проектирование конструкций электронной аппаратуры : сборник статей / ред. Белов Б. И. - М., 1989. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 532). -
Аналитическое описание
Еланцев А. В., Маркелов В. В.
Оптимизация количества контрольных точек при проектировании контролепригодной ЭВА / Еланцев А. В., Маркелов В. В. // Прогрессивные методы конструирования и технологии производства микроэлектронной аппаратуры : сборник статей / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; ред. Белов Б. И. - М., 1986. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 455). -С. 17-26 .
Оптимизация количества контрольных точек при проектировании контролепригодной ЭВА / Еланцев А. В., Маркелов В. В. // Прогрессивные методы конструирования и технологии производства микроэлектронной аппаратуры : сборник статей / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; ред. Белов Б. И. - М., 1986. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 455). -
Еланцев А. В., Маркелов В. В., Шерстнев В. В.
Правила оформления конструкторской документации электронной аппаратуры : метод. указания по дипломному и курсовому проектированию / Еланцев А. В., Маркелов В. В., Шерстнев В. В. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - Москва : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 1994. - 56 с.
Ч. II. - 1994. - 56 с. : ил. - Библиогр.в конце брош.
Правила оформления конструкторской документации электронной аппаратуры : метод. указания по дипломному и курсовому проектированию / Еланцев А. В., Маркелов В. В., Шерстнев В. В. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - Москва : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 1994. - 56 с.
Ч. II. - 1994. - 56 с. : ил. - Библиогр.
