Расширенный поиск

   Сканирующая электронная микроскопия и рентгено-спектральный микроанализ в примерах практического применения : учеб. пособие для вузов / Криштал М. М., Ясников И. С., Полунин В. И. [и др.]. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2009. - 206 с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-94836-200-7.

Смоляр В. А., Мелешко Е. С.
   Эффект близости при электронно-пучковом формировании гидрогелевых наноразмерных поверхностных биологически активных структур / Смоляр В. А., Мелешко Е. С. // Биомедицинские технологии и радиоэлектроника. - 2006. - № 4. - С. 54-61.

Снегирева Н. С., Валиев Х. Х., Карнет Ю. Н.
   Сканирующая зондовая микроскопия в изучении мембранных нанотехнологий : монография / Снегирева Н. С., Валиев Х. Х., Карнет Ю. Н. ; Институт прикладной механики РАН. - М. : РУСАЙНС, 2024. - 129 с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-466-07460-4.

   Справочник по микроскопии для нанотехнологии : пер. с англ. / ред. Нан Яо, Чжун Лин Ван ; МГУ им. М. В. Ломоносова. Науч. -образоват. центр по нанотехнологиям ; науч. ред. Яминский И. В. - М. : Научный мир, 2011. - 711 с., [6] л. ил. : ил. - (Фундаментальные основы нанотехнологий. Справочники). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-91522-232-7.

   Структура и механические свойства фольг, полученных из нанокристаллического бериллия / Жигалина О. М., Семенов А. А., Забродин А. В., Хмеленин Д. Н., Брылев Д. А., Лизунов А. В., Небера А. Л., Морозов И. А., Аникин А. С., Орехов А. С., Кускова А. Н., Мишин А. В., Серегин А. В. // Кристаллография. - 2016. - Т. 61, № 4. - С. 526-534.

   Физика и технология источников ионов : коллективная монография / Браун Я., Келлер Р., Холмс А. [и др.] ; ред. Браун Я. ; пер. с англ. Белова Н. Г., Илялетдинов Н. Е., Богомолов В. Г. ; ред. пер. Машкова Е. С. - М. : Мир, 1998. - 495 с. : рис., табл. - Библиогр.: с. 465-488. - ISBN 5-03-002596-0.

   Физика и технология плазменных эмиссионных систем / Бабинов Н. А., Барченко В. Т., Груздев В. А. [и др.] ; С. -Петербург. гос. электротехн. ун-т "ЛЭТИ" им. В. И. Ульянова (Ленина) ; общ. ред. Барченко В. Т. - СПб. : Изд-во СПбГЭТУ "ЛЭТИ", 2014. - 262 с. : ил. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-7629-1615-8.

Фульц Б., Хау Дж. М.
   Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов / Фульц Б., Хау Дж. М. ; пер. с англ. Даниленко В. И. ; ред. пер. Мохов А. В. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2011. - 903 с. : ил. - (Мир физики и техники). - ISBN 978-5-94836-291-5.

Фурсей Г. Н.
   Автоэлектронная эмиссия : [учеб. пособие] / Фурсей Г. Н. - СПб. : Лань, 2012. - 319 с., [1] л. ил. : ил. - (Учебники для вузов. Специальная литература). - Библиогр.: с. 274-311. - ISBN 978-5-8114-1232-7.

Хокс П., Каспер Э.
   Основы электронной оптики : в 2 т. / Хокс П., Каспер Э. ; пер. с англ. Баранова Л. А., Орбели А. Л. ; ред. пер. Явор С. Я. - М. : Мир, 1993. - ISBN 5-03-002070-5.
   Т. 1 : Основы геометрической оптики. - 1993. - 551 с. : рис., табл. - Библиогр.: с. 518-546. - ISBN 5-03-002071-3.