Расширенный поиск

   Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение : [монография] / Андерхальт Р., Анзалоне П., Апкариан П. Р. [и др.] ; ред. Уэйли Жу, Жонг Лин Уанга ; пер. с англ. Иванов С. А., Домкин К. И. ; ред. пер. Каминская Т. П. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2016. - 582 с. : ил. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-9963-1110-1.

   Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение : [монография] / Андерхальт Р., Анзалоне П., Апкариан П. Р. [и др.] ; ред. Жу У., Жонг Лин Уанг ; пер. с англ. Иванов С. А., Домкин К. И. ; ред. пер. Каминская Т. П. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2018. - 582 с., [8] л. ил. : ил. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-9963-1110-1.

Семенов А. П.
   Техника распыления ионными пучками / Семенов А. П. ; РАН. СО. Бурятский научный центр, Институт естественных наук ; отв. ред. Ломухин Ю. Л. - Улан-Удэ : Изд-во БНЦ СО РАН, 1996. - 118 с. - Библиогр.: с. 106-118. - ISBN 5-7623-1110-4.

Синдо Д., Оикава Т.
   Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия : пер. с англ. / Синдо Д., Оикава Т. ; пер. Иванов С. А. - М. : Техносфера, 2006. - 249 с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 5-94836-064-4.

   Сканирующая электронная микроскопия и рентгено-спектральный микроанализ в примерах практического применения : учеб. пособие для вузов / Криштал М. М., Ясников И. С., Полунин В. И. [и др.]. - М. : Техносфера, 2009. - 206 с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-94836-200-7.

Смоляр В. А., Мелешко Е. С.
   Эффект близости при электронно-пучковом формировании гидрогелевых наноразмерных поверхностных биологически активных структур / Смоляр В. А., Мелешко Е. С. // Биомедицинские технологии и радиоэлектроника. - 2006. - № 4. - С. 54-61.

Снегирева Н. С., Валиев Х. Х., Карнет Ю. Н.
   Сканирующая зондовая микроскопия в изучении мембранных нанотехнологий : монография / Снегирева Н. С., Валиев Х. Х., Карнет Ю. Н. ; Институт прикладной механики РАН. - М. : РУСАЙНС, 2024. - 129 с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-466-07460-4.

   Справочник по микроскопии для нанотехнологии : пер. с англ. / ред. Нан Яо, Чжун Лин Ван ; МГУ им. М. В. Ломоносова. Науч. -образоват. центр по нанотехнологиям ; науч. ред. Яминский И. В. - М. : Научный мир, 2011. - 711 с., [6] л. ил. : ил. - (Фундаментальные основы нанотехнологий. Справочники). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-91522-232-7.

   Структура и механические свойства фольг, полученных из нанокристаллического бериллия / Жигалина О. М., Семенов А. А., Забродин А. В., Хмеленин Д. Н., Брылев Д. А., Лизунов А. В., Небера А. Л., Морозов И. А., Аникин А. С., Орехов А. С., Кускова А. Н., Мишин А. В., Серегин А. В. // Кристаллография. - 2016. - Т. 61, № 4. - С. 526-534.

   Физика и технология источников ионов : коллективная монография / Браун Я., Келлер Р., Холмс А. [и др.] ; ред. Браун Я. ; пер. с англ. Белова Н. Г., Илялетдинов Н. Е., Богомолов В. Г. ; ред. пер. Машкова Е. С. - М. : Мир, 1998. - 495 с. : рис., табл. - Библиогр.: с. 465-488. - ISBN 5-03-002596-0.