Расширенный поиск

Петин Б. Ф., Левов С. Н., Тростенюк Ю. В.
   Твердотельный преобразователь тепловых изображений / Петин Б. Ф., Левов С. Н., Тростенюк Ю. В. // Оптико-электронные приборы : сборник статей / ред. Лазарев Л. П. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 1988. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 519). - С. 79-94.

Подгуйко Н. А., Марахтанов М. К., Хохлов Ю. А.
   Исследование двухступенчатого холодного полого магнетронного катода / Подгуйко Н. А., Марахтанов М. К., Хохлов Ю. А. // Академические чтения по космонавтике, посвящённые памяти академика С. П. Королёва и других выдающихся отечественных учёных-пионеров освоения космического пространства, 46-е, 25 - 28 января 2022 года : в 4 т. / Российская академия наук, Государственная корпорация по космической деятельности "Роскосмос", Комиссия РАН по разработке научного наследия пионеров освоения космического пространства, МГТУ им. Н. Э. Баумана (национальный исследовательский университет). - 2022. - Т. 1. - С. 276-278.

   Проблемы линейных измерений микрообъектов в нанометровом и субмикронном диапазонах / Российская академия наук ; отв. ред. Раков А. В. - М. : Наука, 1995. - 162 с. - (Труды / Институт общей физики ; т. 49). - Библиогр. в конце статей. - ISBN 5-02-000828-1.

   Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение : [монография] / Андерхальт Р., Анзалоне П., Апкариан П. Р. [и др.] ; ред. Жу У., Жонг Лин Уанг ; пер. с англ. Иванов С. А., Домкин К. И. ; ред. пер. Каминская Т. П. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2013. - 582 с., [8] л. ил. : ил. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-9963-1110-1.

   Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение : [монография] / Андерхальт Р., Анзалоне П., Апкариан П. Р. [и др.] ; ред. Уэйли Жу, Жонг Лин Уанга ; пер. с англ. Иванов С. А., Домкин К. И. ; ред. пер. Каминская Т. П. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2016. - 582 с. : ил. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-9963-1110-1.

   Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение : [монография] / Андерхальт Р., Анзалоне П., Апкариан П. Р. [и др.] ; ред. Жу У., Жонг Лин Уанг ; пер. с англ. Иванов С. А., Домкин К. И. ; ред. пер. Каминская Т. П. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2018. - 582 с., [8] л. ил. : ил. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-9963-1110-1.

   Рентгеновская оптика : сборник статей / Академия наук СССР ; отв. ред. тома Ораевский А. Н. - М. : Наука, 1989. - 181 с. : рис., табл. - (Труды / Физический институт им. П. Н. Лебедева ; т. 196). - Библиогр.: с. 3, в конце статей. - ISBN 5-02-000019-1. - ISSN 0203-5820.

Семенов А. П.
   Техника распыления ионными пучками / Семенов А. П. ; РАН. СО. Бурятский научный центр, Институт естественных наук ; отв. ред. Ломухин Ю. Л. - Улан-Удэ : Изд-во БНЦ СО РАН, 1996. - 118 с. - Библиогр.: с. 106-118. - ISBN 5-7623-1110-4.

Синдо Д., Оикава Т.
   Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия : пер. с англ. / Синдо Д., Оикава Т. ; пер. Иванов С. А. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2006. - 249 с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 5-94836-064-4.

   Сканирующая электронная микроскопия и рентгено-спектральный микроанализ в примерах практического применения : учеб. пособие для вузов / Криштал М. М., Ясников И. С., Полунин В. И. [и др.]. - М. : Техносфера, 2009. - 206 с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-94836-200-7.