Расширенный поиск

Зимина Ю. М., Кузенков Ю. А., Олейник С. В.
   Защитные конверсионные покрытия ИФХАНАЛ на алюминиевых сплавах / Зимина Ю. М., Кузенков Ю. А., Олейник С. В. // Коррозия: материалы, защита. - 2010. - № 7. - С. 44-48.

Зиновьев П. А., Смердов А. А.
   Оптимальное проектирование композитных материалов : учеб. пособие для вузов / Зиновьев П. А., Смердов А. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2006. - 101 с. : ил. - Библиогр.: с.99-100. - ISBN 5-7038-2840-6.

Зинченко Л. А., Шахнов В. А.
   Особенности применения вычислительных систем в САПР наноинженерии / Зинченко Л. А., Шахнов В. А. // Вестник МГТУ им. Н. Э. Баумана. Сер. Приборостроение. - 2010. - № спецвыпуск. - С. 100-109.

Зинченко Л. В., Зинченко Д. А.
   Расчет ударных повреждений при высокоскоростном соударении осколочно-метеорных частиц с элементами конструкций космических аппаратов / Зинченко Л. В., Зинченко Д. А. // Конструкции из композиционных материалов. - 2018. - № 1. - С. 3-6.

Зо Е Аунг.
   Влияния хемосорбции галогенов на напряженно-деформационное состояние и механические свойства углеродных нанотрубок : автореф. дис... кф-мн : 01.04.07 / Зо Е Аунг ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - Москва, 2012. - 15 с.

Зо Е Аунг.
   Влияния хемосорбции галогенов на напряжённо-деформационное состояние и механические свойства углеродных нанотрубок : дис... кф-мн : 01.04.07 / Зо Е Аунг ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - Калуга, 2012. - 128 л. - Библиогр.: л.119-128.

Золотарев С. А., Венгринович В. Л.
   Итерационная параллельная реконструкция изображений для промышленной томографии / Золотарев С. А., Венгринович В. Л. // Дефектоскопия. - 2009. - № 6. - С. 3-12.

Золотаревский С. Ю.
   Метрологическое обеспечение параметров шероховатости поверхностей в нанометровом диапазоне методами интерферометрии высокого разрешения : [учебное пособие] / Золотаревский С. Ю. ; ред. Киселев М. И. - Москва : Университетская книга, 2016. - 197 с. : ил. - Библиогр.: с.186-197. - ISBN 978-5-98699-198-6.

Золотаревский С. Ю.
   Обеспечение единства измерений геометрических параметров шероховатости поверхностей в нанометровом диапазоне методами интерферометрии высокого разрешения : автореф. дис... дтн : 05.11.15 / Золотаревский С. Ю. ; Всероссийский научно-исследовательский институт метрологической службы. - Москва, 2015. - 32 с. : ил.

Золотаревский С. Ю.
   Обеспечение единства измерений геометрических параметров шероховатости поверхностей в нанометровом диапазоне методами интерферометрии высокого разрешения : дис... дтн : 05.11.15 / Золотаревский С. Ю. ; Всероссийский научно-исследовательский институт метрологической службы. - Москва, 2015. - 328 л. : ил. - Библиогр.: л.299-321.