Расширенный поиск

   Электронная микроскопия тонких кристаллов / Хирш П., Хови А., Николсон Р. [и др.] ; ред. пер. с англ. Утевский Л. М. - М. : Мир, 1968. - 574 с. : ил. - Библиогр. в конце гл.

Валиев Р. З., Вергазов А. Н., Герцман В. Ю.
   Кристаллогеометрический анализ межкристаллитных границ в практике электронной микроскопии : монография / Валиев Р. З., Вергазов А. Н., Герцман В. Ю. ; Академия наук СССР, Институт проблем сверхпластичности металлов. - М. : Наука, 1991. - 230 с. : рис., табл., граф. - Библиогр.: с. 221-225. - ISBN 5-02-000195-3.

Суворов, Э. В.  Материаловедение: методы исследования структуры и состава материалов : учебник для вузов / Э. В. Суворов. — 2-е изд., перераб. и доп. — Москва : Издательство Юрайт, 2025. — 180 с. — (Высшее образование). — ISBN 978-5-534-06011-9.

Щука, А. А.  Электроника в 4 ч. Часть 1. Вакуумная и плазменная электроника : учебник для вузов / А. А. Щука, А. С. Сигов ; под редакцией А. С. Сигова. — 2-е изд., испр. и доп. — Москва : Издательство Юрайт, 2025. — 172 с. — (Высшее образование). — ISBN 978-5-534-01763-2.