Расширенный поиск

Рыков С. А.
   Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур : учеб. пособие для вузов / Рыков С. А. ; ред. Ильин В. И., Шик А. Я. - СПб. : Наука, 2001. - 52 с. : ил. - (Новые разделы физики полупроводников). - Библиогр.: с. 51. - ISBN 5-02-024956-4.

   Термостимулированная релаксация как метод исследования широкозонных полупроводников (обзор) / Адонин А. С., Бейсюк П. П., Бурачек В. Р. [и др.]. - М. : Техника-Про, 2000. - 95 с. : ил. - (Физика полупроводников. Электроника XXI века). - Библиогр.: с. 92-95. - ISBN 5-8376-0015-9.

   Разработка методов субмикронной катодолюминесцентной диагностики прямозонных материалов полупроводниковой оптоэлектроники : отчёт о НИР (заключительный) / МГТУ. Калужский филиал ; рук. нир Степанович М. А. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2002. - 77 л. - Библиогр.: л. 76-77. - Шифр ОК-ФН3-01Ф. - Инв. № 02.200.204171.

   Субмикронная электроннозондовая диагностика материалов и структур микро- и наноэлектроники : отчёт о НИР (заключительный) / МГТУ им. Н. Э. Баумана. Калужский фил. ; рук. темы Степанович М. А. - М., 2003. - 96 л. - Библиогр.: л. 89-97. - Шифр ОК-ФН3-02Ф. - Инв. № 02.20.0302542.

   Субмикронная катодолюминесцентная диагностика прямозонных материалов полупроводниковой оптоэлектроники : отчёт о НИР (заключительный) / МГТУ им. Н. Э. Баумана. Калужский фил. ; рук. нир Степович М. А. - М., 2001. - 69 л. - Библиогр.: л. 65-69. - Шифр ОК-ФН3-00Ф. - ГР 01200002393. - Инв. № 02.2.00104557.

   Изучение возможностей использования электроннозондовых методов для субмикронной диагностики материалов и структур электронной техники : отчёт о НИР (заключительный) / МГТУ им. Н. Э. Баумана. Калужский фил. ; рук. темы Степович М. А. - М., 2003. - 140 л. - Библиогр.: л. 130-140. - Шифр Т00-2.2-852. - ГР 01200110405. - Инв. № 02.20.0303192.

Ковтонюк Н. Ф., Концевой Ю. А.
   Измерения параметров полупроводниковых материалов / Ковтонюк Н. Ф., Концевой Ю. А. - М. : Металлургия, 1970. - 428 с. : ил. - Библиогр.: с. 412-428.

   Физико-химические методы исследования полупроводниковых материалов. - М. : Металлургия, 1974. - 141 с. : рис., табл. - (Труды / Научно-исследовательский и проектный ин-т редкометаллической промышленности (ГИРЕДМЕТ) ; т. 55). - Библиогр. в конце статей.

Государственный научно-исследовательский и проектный ин-т редкометаллической промышленности "Гиредмет"
   Научные труды. - М. : Металлургия, 1966.
   Т. 33 : Физико-химические методы исследования полупроводниковых материалов. - 1971. - 199 с. : ил. - Библиогр. в конце статей.

Государственный научно-исследовательский и проектный ин-т редкометаллической промышленности "Гиредмет"
   Научные труды. - М. : Металлургия, 1966.
   Т. 18 : Физико-химические методы исследования полупроводниковых материалов. - 1966. - 142 с. : ил. - Библиогр. в конце статей.