Расширенный поиск

Барабанов В. Ф., Пашковский М. Е., Подвальный С. Л.
   Оперативная оценка стойкости полупроводниковых изделий к локальным радиационным эффектам : монография / Барабанов В. Ф., Пашковский М. Е., Подвальный С. Л. - Воронеж : Научная книга, 2012. - 128 с. : ил. - Библиогр.: с. 125-128. - ISBN 978-5-98222-775-1.

   Воздействие ионизирующего излучения в электронике. От схем памяти до формирователей изображений / ред. Багатин М., Жерарден С. ; пер. с англ. Шашков А. А. - М. : Техносфера, 2023. - 501 с. : ил. - (Мир радиоэлектроники). - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-94836-599-2.

Таперо К. И., Улимов В. Н., Членов А. М.
   Радиационные эффекты в кремниевых интегральных схемах космического применения : [монография] / Таперо К. И., Улимов В. Н., Членов А. М. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2012. - 304 с. : ил. - Библиогр.: с. 289-297. - ISBN 978-5-9963-0633-6.

Таперо К. И., Улимов В. Н., Членов А. М.
   Радиационные эффекты в кремниевых интегральных схемах космического применения : [монография] / Таперо К. И., Улимов В. Н., Членов А. М. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2018. - 304 с. : ил. - Библиогр.: с. 289-297. - ISBN 978-5-9963-0633-6.