Личный кабинет
9 записей
Рид С.
Электронно-зондовый микроанализ : пер. с англ. / Рид С. ; пер. Козленков А. И. - М. : Мир, 1979. - 423 с. : рис. - Библиогр.:с. 401-411 .
Электронно-зондовый микроанализ : пер. с англ. / Рид С. ; пер. Козленков А. И. - М. : Мир, 1979. - 423 с. : рис. - Библиогр.:
2 экз.
Биркс Л. С.
Рентгеновский микроанализ с помощью электронного зонда / Биркс Л. С. ; ред. Нарбутт К. И. ; пер. с англ. Латунина И. П., Смирновой И. С. - М. : Металлургия, 1966. - 216 с. : ил. - Библиогр.:с. 205-213 .
Рентгеновский микроанализ с помощью электронного зонда / Биркс Л. С. ; ред. Нарбутт К. И. ; пер. с англ. Латунина И. П., Смирновой И. С. - М. : Металлургия, 1966. - 216 с. : ил. - Библиогр.:
2 экз.
Кочубей Д. И.
EXAFS-спектроскопия катализаторов : монография / Кочубей Д. И. ; Российская Академия наук. СО, Институт катализа ; отв. ред. Жидомиров Г. М. - Новосибирск : Наука, 1992. - 144 с. : рис., табл. - Библиогр.:с. 135-144 . - ISBN 5-02-029286-9 .
EXAFS-спектроскопия катализаторов : монография / Кочубей Д. И. ; Российская Академия наук. СО, Институт катализа ; отв. ред. Жидомиров Г. М. - Новосибирск : Наука, 1992. - 144 с. : рис., табл. - Библиогр.:
1 экз.
Рид С. Дж. Б.
Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии / Рид С. Дж. Б. ; пер. с англ. Петрова Д. Б., Романенко И. М., Ревенко В. А. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2008. - 229 с., [8] с. фот. : ил. - (Мир наук о земле). -ISBN 978-5-94836-177-2 .
Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии / Рид С. Дж. Б. ; пер. с англ. Петрова Д. Б., Романенко И. М., Ревенко В. А. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2008. - 229 с., [8] с. фот. : ил. - (Мир наук о земле). -
1 экз.
Сканирующая электронная микроскопия и рентгено-спектральный микроанализ в примерах практического применения : учеб. пособие для вузов / Криштал М. М., Ясников И. С., Полунин В. И. [и др.]. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2009. - 206 с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-94836-200-7 .
5 экз.
Быков Ю. А., Карпухин С. Д.
Растровая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ (аппаратура, принципы работы, применение) : учеб. пособие по курсу "Современные методы исследования структуры материалов" / Быков Ю. А., Карпухин С. Д. ; ред. Быков Ю. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2002. - 30 с. : ил. - Библиогр.:с. 29 . - ISBN 5-7038-2014-6 .
Растровая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ (аппаратура, принципы работы, применение) : учеб. пособие по курсу "Современные методы исследования структуры материалов" / Быков Ю. А., Карпухин С. Д. ; ред. Быков Ю. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2002. - 30 с. : ил. - Библиогр.:
Читать онлайн
6 экз.
Мазалова В. Л., Кравцова А. Н., Солдатов А. В.
Нанокластеры: рентгеноспектральные исследования и компьютерное моделирование / Мазалова В. Л., Кравцова А. Н., Солдатов А. В. - М. : Физматлит, 2013. - 182 с. : ил. - Библиогр.в конце гл. - ISBN 978-5-9221-1457-8 .
Нанокластеры: рентгеноспектральные исследования и компьютерное моделирование / Мазалова В. Л., Кравцова А. Н., Солдатов А. В. - М. : Физматлит, 2013. - 182 с. : ил. - Библиогр.
6 экз.
Аппаратура и методы рентгеновского анализа : [сборник статей] / Специальное КБ рентгеновской аппаратуры. - Л., 1970.
Вып. VI. - 1970. - 236 с. : ил. - Библиогр.в конце ст.
Вып. VI. - 1970. - 236 с. : ил. - Библиогр.
1 экз.
Ведринский Р. В., Гегузин И. И.
Рентгеновские спектры поглощения твёрдых тел / Ведринский Р. В., Гегузин И. И. - М. : Энергоатомиздат, 1991. - 183 с. : рис., табл., граф. - Библиогр.:с. 177-182 . - ISBN 5-283-03923-4 .
Рентгеновские спектры поглощения твёрдых тел / Ведринский Р. В., Гегузин И. И. - М. : Энергоатомиздат, 1991. - 183 с. : рис., табл., граф. - Библиогр.:
2 экз.
