Расширенный поиск

Рид С.
   Электронно-зондовый микроанализ : пер. с англ. / Рид С. ; пер. Козленков А. И. - М. : Мир, 1979. - 423 с. : рис. - Библиогр.: с. 401-411.

Биркс Л. С.
   Рентгеновский микроанализ с помощью электронного зонда / Биркс Л. С. ; ред. Нарбутт К. И. ; пер. с англ. Латунина И. П., Смирновой И. С. - М. : Металлургия, 1966. - 216 с. : ил. - Библиогр.: с. 205-213.

Кочубей Д. И.
   EXAFS-спектроскопия катализаторов : монография / Кочубей Д. И. ; Российская Академия наук. СО, Институт катализа ; отв. ред. Жидомиров Г. М. - Новосибирск : Наука, 1992. - 144 с. : рис., табл. - Библиогр.: с. 135-144. - ISBN 5-02-029286-9.

   Аппаратура и методы рентгеновского анализа : Сборник статей / Ленинградское научно-производственное объединение "Буревестник" ; гл. ред. Комяк Н. И. - Л. : Машиностроение, Ленинградское отделение, 1974.
   Вып. 39 / общ. ред. Слуцкер А. И. - 1989. - 198 с. : ил. - Библиогр. в конце статей.

Рид С. Дж. Б.
   Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии / Рид С. Дж. Б. ; пер. с англ. Петрова Д. Б., Романенко И. М., Ревенко В. А. - М. : Техносфера, 2008. - 229 с., [8] с. фот. : ил. - (Мир наук о земле). - ISBN 978-5-94836-177-2.

   Сканирующая электронная микроскопия и рентгено-спектральный микроанализ в примерах практического применения : учеб. пособие для вузов / Криштал М. М., Ясников И. С., Полунин В. И. [и др.]. - М. : Техносфера, 2009. - 206 с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-94836-200-7.

   Аппаратура и методы рентгеновского анализа : [сборник статей] / Специальное конструкторское бюро рентгеновской аппаратуры. - Л., 1967.
   Вып. 7 / отв. ред. Нарбутт К. И., Уманский М. М. - 1970. - 252 с. : ил. - Библиогр. в конце статей. - В сборнике также представлены материалы семинара "Новые разработки в области рентгеноструктурного анализа", Москва, 23-27 ноября 1969 г.

   Аппаратура и методы рентгеновского анализа : сборник статей / Специальное конструкторское бюро рентгеновской аппаратуры. - Л. : Машиностроение, 1972.
   Вып. 13 / гл. ред. Комяк Н. И. - 1974. - 278 с. : ил. - Библиогр. в конце статей.

Быков Ю. А., Карпухин С. Д.
   Растровая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ (аппаратура, принципы работы, применение) : учеб. пособие по курсу "Современные методы исследования структуры материалов" / Быков Ю. А., Карпухин С. Д. ; ред. Быков Ю. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2002. - 30 с. : ил. - Библиогр.: с. 29. - ISBN 5-7038-2014-6.

   Аппаратура и методы рентгеновского анализа : сборник статей / Специальное конструкторское бюро рентгеновской аппаратуры. - Л. : Машиностроение, 1972.
   Вып. 14 / гл. ред. Комяк Н. И. - 1974. - 246 с. : ил. - Библиогр. в конце статей.