Личный кабинет
2 записи
Цепулин В. Г.
Высокоскоростной спектрофотометрический метод измерения толщин многослойных пленочных структур : автореф. дис... ктн : 05. 11. 07 / Цепулин В. Г. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана (Национальный исследовательский университет). - М., 2019. - 16 с.
Высокоскоростной спектрофотометрический метод измерения толщин многослойных пленочных структур : автореф. дис... ктн : 05. 11. 07 / Цепулин В. Г. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана (Национальный исследовательский университет). - М., 2019. - 16 с.
2 экз.
Цепулин В. Г.
Высокоскоростной спектрофотометрический метод измерения толщин многослойных пленочных структур : дис... ктн : 05. 11. 07 / Цепулин В. Г. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана (Национальный исследовательский университет). - М., 2019. - 167 л. : ил. - Библиогр.:л. 158-167 .
Высокоскоростной спектрофотометрический метод измерения толщин многослойных пленочных структур : дис... ктн : 05. 11. 07 / Цепулин В. Г. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана (Национальный исследовательский университет). - М., 2019. - 167 л. : ил. - Библиогр.:
1 экз.
