60 записей
Библиотека функциональных ячеек для проектирования полузаказных микросхем серий 5503 и 5507 : [пособие] / Денисов А. Н., Фомин Ю. П., Коняхин В. В., Фёдоров Р. А. ; Научно-производственный комплекс "Технологический центр" Московского гос. ин-та электронной техники ; общ. ред. Сауров А. Н. - М. : Техносфера, 2012. - 298 с. : ил. - (Мир электроники). - ISBN 978-5-94836-332-5 .
Нано-КМОП-схемы и проектирование на физическом уровне / Вонг Б. П., Миттал А., Цао Ю., Старр Г. ; пер. с англ. Юдинцев К. В. ; ред. пер. Шелепин Н. А. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2014. - 431 с. : ил. - (Мир радиоэлектроники). - Библиогр.: с. 12-13, в конце глав . - ISBN 978-5-94836-377-6 .
Глушко А. А.
Приборно-технологическое моделирование в системе TCAD Sentaurus : метод. указания к выполнению лаб. работ по дисциплине "Автоматизация проектирования электронных средств" / Глушко А. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2015. - 61 с. : ил. - Библиогр.:с. 58 . - ISBN 978-5-7038-4177-8 .
Приборно-технологическое моделирование в системе TCAD Sentaurus : метод. указания к выполнению лаб. работ по дисциплине "Автоматизация проектирования электронных средств" / Глушко А. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2015. - 61 с. : ил. - Библиогр.:
Диссертация
Верстов В. А.
Параллельный алгоритм трансформации топологического слоя цифровой схемы при наличии ограничений технологии двойного шаблона : дис... ктн : 05. 13. 01 : 05. 13. 05 / Верстов В. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2016. - 129 л. : ил. - Библиогр.:л. 120-129 .
Параллельный алгоритм трансформации топологического слоя цифровой схемы при наличии ограничений технологии двойного шаблона : дис... ктн : 05. 13. 01 : 05. 13. 05 / Верстов В. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2016. - 129 л. : ил. - Библиогр.:
Автореферат диссертации
Верстов В. А.
Параллельный алгоритм трансформации топологического слоя цифровой схемы при наличии ограничений технологии двойного шаблона : автореф. дис... ктн : 05. 13. 01 : 05. 13. 05 / Верстов В. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2016. - 16 с.
Параллельный алгоритм трансформации топологического слоя цифровой схемы при наличии ограничений технологии двойного шаблона : автореф. дис... ктн : 05. 13. 01 : 05. 13. 05 / Верстов В. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2016. - 16 с.
Куликов И. В.
Функциональная устойчивость сверхбольших интегральных схем. Критерий качества и надежности : [монография] / Куликов И. В. - СПб. : Политехника, 2017. - 171 с. : ил. - Библиогр.:с. 169-171 . - ISBN 978-5-7325-1115-4 .
Функциональная устойчивость сверхбольших интегральных схем. Критерий качества и надежности : [монография] / Куликов И. В. - СПб. : Политехника, 2017. - 171 с. : ил. - Библиогр.:
Полузаказные БИС на БМК серий 5503 и 5507 : практическое пособие : в 4 кн. / Научно-производственный комплекс "Технологический центр" ; общ. ред. Сауров А. Н. - М. : Техносфера, 2019. - (Мир электроники).
Кн. 1 : Методология проектирования и освоение производства / Денисов А. Н., Коняхин В. В. - 2019. - 196 с. разд. паг. : рис., табл. -ISBN 978-5-94836-442-1 .
Кн. 1 : Методология проектирования и освоение производства / Денисов А. Н., Коняхин В. В. - 2019. - 196 с. разд. паг. : рис., табл. -
Полузаказные БИС на БМК серий 5503 и 5507 : практическое пособие : в 4 кн. / Научно-производственный комплекс "Технологический центр" ; общ. ред. Сауров А. Н. - М. : Техносфера, 2019. - (Мир электроники).
Кн. 3 : Библиотека функциональных ячеек для проектирования полузаказных микросхем серий 5503 и 5507 / Денисов А. Н., Фомин Ю. П., Коняхин В. В., Фёдоров Р. А. - 2019. - 315 с. разд. паг. : ил. -ISBN 978-5-94836-440-7 .
Кн. 3 : Библиотека функциональных ячеек для проектирования полузаказных микросхем серий 5503 и 5507 / Денисов А. Н., Фомин Ю. П., Коняхин В. В., Фёдоров Р. А. - 2019. - 315 с. разд. паг. : ил. -
Королева А. Н.
Разработка научно-методических основ управления качеством базовых технологий, используемых при проектировании и производстве сверхбольших интегральных схем : 05. 27. 06-Технология и оборудование для производства полупроводников, материалов и приборов электронной техники : автореф. дис... ктн / Королева А. Н. ; Научно-исследовательский ин-т молекулярной электроники (АО "НИИМЭ"). - М., 2021. - 16 с.
Разработка научно-методических основ управления качеством базовых технологий, используемых при проектировании и производстве сверхбольших интегральных схем : 05. 27. 06-Технология и оборудование для производства полупроводников, материалов и приборов электронной техники : автореф. дис... ктн / Королева А. Н. ; Научно-исследовательский ин-т молекулярной электроники (АО "НИИМЭ"). - М., 2021. - 16 с.
Королева А. Н.
Разработка научно-методических основ управления качеством базовых технологий, используемых при проектировании и производстве сверхбольших интегральных схем : 05. 27. 06-Технология и оборудование для производства полупроводников, материалов и приборов электронной техники : дис... ктн / Королева А. Н. ; Научно-исследовательский ин-т молекулярной электроники (АО "НИИМЭ"). - М., 2021. - 123 л. : табл. - Библиогр.:л. 107-116 .
Разработка научно-методических основ управления качеством базовых технологий, используемых при проектировании и производстве сверхбольших интегральных схем : 05. 27. 06-Технология и оборудование для производства полупроводников, материалов и приборов электронной техники : дис... ктн / Королева А. Н. ; Научно-исследовательский ин-т молекулярной электроники (АО "НИИМЭ"). - М., 2021. - 123 л. : табл. - Библиогр.: