Расширенный поиск

   Анализ неразрушающих методов измерения и контроля толщины тонких пленок / Шупенев А. Е., Панкова Н. С., Коршунов И. С., Григорьянц А. Г. // Известия ВУЗов. Сер. "Машиностроение". - 2019. - № 4. - С. 18-27.

   Анализ разрушающих методов измерения и контроля толщины тонких пленок / Шупенев А. Е., Панкова Н. С., Коршунов И. С., Григорьянц А. Г. // Известия ВУЗов. Сер. "Машиностроение". - 2019. - № 3. - С. 31-39.

Аракчеев П. В., Бурый Е. В., Семеренко Д. А.
   Устройство регистрации TV-изображений с высоким разрешением величин интенсивностей и реализацией стробоскопического режима съемки / Аракчеев П. В., Бурый Е. В., Семеренко Д. А. // Приборы и техника эксперимента. - 2019. - № 1. - С. 23-27.

Власов В. В., Рожков В. В., Суворов С. В.
   Влияние периода выборки на характеристики обнаружения при последовательном анализе с использованием критериев χ2 И Фишера / Власов В. В., Рожков В. В., Суворов С. В. // Датчики и системы. - 2017. - № 2. - С. 13-17.

Калинин А. П., Орлов А. Г., Радионов И. Д.
   Авиационный гиперспектрометр / Калинин А. П., Орлов А. Г., Радионов И. Д. // Вестник МГТУ им. Н. Э. Баумана. Сер. Приборостроение. - 2006. - № 3. - С. 11-24.

Креопалова Г. В., Лазарева Н. Л., Пуряев Д. Т.
   Оптические измерения : учебник для вузов / Креопалова Г. В., Лазарева Н. Л., Пуряев Д. Т. ; ред. Пуряев Д. Т. - М. : Машиностроение, 1987. - 263 с. : ил. - Библиогр.: с. 259.

Мартынова Д. К., Гладышева Я. В., Барышников Н. В.
   Анализ погрешностей алгоритма абсолютной калибровки для высокочастотных неоднородностей / Мартынова Д. К., Гладышева Я. В., Барышников Н. В. // Контенант. - 2018. - Т. 17, № 3. - С. 136-142.