Расширенный поиск

   Высокоточный метод контроля параметров локальных отклонений нанометрового уровня поверхности оптической детали / Барышников Н. В., Денисов Д. Г., Карасик В. Е., Абдулкадыров М. А., Игнатов А. Н., Патрикеев В. Е., Семёнов А. П., Морозов А. Б., Судариков И. Н., Шаров Ю. А. // Оптический журнал. - 2018. - Т. 85, № 3. - С. 54-61.

   Метод аттестационного контроля поверхностных неоднородностей оптических деталей на основе частотного анализа профиля поверхности / Денисов Д. Г., Барышников Н. В., Гладышева Я. В., Карасик В. Е., Морозов А. Б., Патрикеев В. Е. // Измерительная техника. - 2017. - № 2. - С. 15-19.

Тесленко А. А., Тарабрин М. К.
   Моделирование и создание просветляющих микроструктур для среднего и дальнего ИК-диапазонов на поверхности кристалла ZnSe = Modeling and Fabrication of Antireflection Microstructures on ZnSe for Mid- and Far- IR / Тесленко А. А., Тарабрин М. К. // Наука, технологии и бизнес : материалы 6-ой Межвузовской конференции аспирантов, соискателей и молодых учёных, Москва, 16-18 апреля 2024 года / МГТУ им. Н. Э. Баумана (национальный исследовательский университет). - М., 2024. - С. 446-452.