Расширенный поиск

Александров А. Ф., Кузелев М. В.
   Радиофизика. Физика электронных пучков и основы высокочастотной электроники : учебное пособие для вузов / Александров А. Ф., Кузелев М. В. - М. : Университет, 2007. - 298 с. : ил. - Библиогр.: с. 297-298. - ISBN 978-5-98227-308-6.

Амрастанов А. Н., Серегина Е. В., Степович М. А.
   Оценка нагрева поверхности однородной металлической мишени электронным зондом / Амрастанов А. Н., Серегина Е. В., Степович М. А. // Известия РАН. Сер. "Физическая". - 2019. - Т. 83, № 11. - С. 1455-1460.

Баранова Л. А., Явор С. Я.
   Электростатические электронные линзы : монография / Баранова Л. А., Явор С. Я. - М. : Наука, 1986. - 190 с. : ил. - Библиогр.: с. 186-190.

Бахматов П. В., Григорьев В. В., Калугина А. А.
   Растровая электронная микроскопия как инструмент решения инженерных задач в сварке : учебное пособие / Бахматов П. В., Григорьев В. В., Калугина А. А. - М. ; Вологда : Инфра-Инженерия, 2024. - 147 с. : ил. - Библиогр.: с. 143-144. - ISBN 978-5-9729-2061-7.

Бронштейн И. М., Фрайман Б. С.
   Вторичная электронная эмиссия / Бронштейн И. М., Фрайман Б. С. - М. : Наука, 1969. - 407 с. : ил. - (Физико-математическая библиотека инженера). - Библиогр.: с. 354-407.

Быков Ю. А., Карпухин С. Д.
   Растровая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ (аппаратура, принципы работы, применение) : учеб. пособие по курсу "Современные методы исследования структуры материалов" / Быков Ю. А., Карпухин С. Д. ; ред. Быков Ю. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2002. - 30 с. : ил. - Библиогр.: с. 29. - ISBN 5-7038-2014-6.

Власов А. И., Елсуков К. А., Косолапов И. А.
   Электронная микроскопия : учеб.-метод. комплекс по тем. направлению деятельности ННС "Наноинженерия" : учеб. пособие для вузов / Власов А. И., Елсуков К. А., Косолапов И. А. ; ред. Шахнов В. А. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2011. - 167 с. : ил. - (Библиотека "Наноинженерия" : в 17 кн. ; кн. 11). - Библиогр.: с. 160-164. - ISBN 978-5-7038-3502-9.

   Влияние дозы экспонирования на стойкость негативного электронного резиста HSQ в процессах плазмохимического и химического травления / Мягоньких А. В., Орликовский Н. А., Рогожин А. Е., Татаринцев А. А., Руденко К. В. // Микроэлектроника. - 2018. - Т. 47, № 3. - С. 179-186.

   Вычисление характеристик переноса заряженных частиц в биологических материалов / Давидян А. П., Ерёмин А. В., Ерёмин В. В., Смоляр В. А. // Биомедицинская радиоэлектроника. - 2008. - № 4. - С. 37-44.

Далидчик Ф. И., Ковалевский С. А., Балашов Е. М.
   Поляризационные эффекты в туннельной резонансной спектроскопии точечных дефектов и единичных наночастиц / Далидчик Ф. И., Ковалевский С. А., Балашов Е. М. // Российские нанотехнологии. - 2009. - Т. 4, № 7-8. - С. 87-90.