Расширенный поиск

Амрастанов А. Н., Серегина Е. В., Степович М. А.
   Об одной особенности моделирования нагрева полупроводниковой мишени электронным зондом / Амрастанов А. Н., Серегина Е. В., Степович М. А. // Известия РАН. Сер. "Физическая". - 2018. - Т. 82, № 9. - С. 1304-1309.

Жигалина О. М., Базалеева К. О.
   Анализ структуры материала методами просвечивающей электронной микроскопии : метод. указания к выполнению лаб. работы по дисциплине "Методы структурного анализа" / Жигалина О. М., Базалеева К. О. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2017. - 34 с. : ил. - Библиогр.: с. 29. - ISBN 978-5-7038-4785-5.

   Об одной возможности математического моделирования теплового воздействия остро сфокусированного электронного пучка на однородный полупроводник / Амрастанов А. Н., Гинзгеймер С. А., Степович М. А., Филиппов М. Н. // Известия РАН. Сер. "Физическая". - 2016. - Т. 80, № 10. - С. 1448-1452.

   Структурные особенности и взаимное влияние слоев композиций pzt–lno–siox–si и pzt–lno–si / Жигалина О. М., Атанова А. В., Хмеленин Д. Н., Котова Н. М., Серегин Д. С., Воротилов К. А. // Кристаллография. - 2019. - Т. 64, № 6. - С. 955-961.