Расширенный поиск

Рид С.
   Электронно-зондовый микроанализ : пер. с англ. / Рид С. ; пер. Козленков А. И. - М. : Мир, 1979. - 423 с. : рис. - Библиогр.: с. 401-411.

Свердлов Л. М., Ковнер М. А., Крайнов Е. П.
   Колебательные спектры многоатомных молекул / Свердлов Л. М., Ковнер М. А., Крайнов Е. П. - М. : Наука, 1970. - 559 с. : ил. - (Физика и техника спектрального анализа (Библиотека инженера)). - Библиогр.: с. 517-559.

   Селективная Фурье-спектроскопия ЯМР и ее приложение к исследованию процессов молекулярной динамики / Черныш Ю. Е., Бородкин Г. С., Лукьянов Б. С. [и др.] ; Северо-кавказ. науч. центр высш. шк., НИИ физ. и органической химии ростовского гос. ун-та ; науч. ред. Федин Э. И. - Ростов-на-Дону : Изд-во Северо-кавказ. науч. центра выш. шк., 2002. - 142 с. - Библиогр.: с. 136-141. - ISBN 5-87872-179-1.

Смагунова А. Н., Козлов В. А.
   Примеры применения математической теории эксперимента в рентгенофлуоресцентном анализе / Смагунова А. Н., Козлов В. А. - Иркутск : Изд-во Иркутского ун-та, 1990. - 230 с.

   Спектральные методы анализа. Практическое руководство : учебное пособие для вузов / Васильева В. И., Стоянова О. Ф., Шкутина И. В. [и др.] ; ред. Селеменев В. Ф., Семёнов В. Н. - СПб. : Лань, 2014. - 412 с. : ил. - (Учебники для вузов. Специальная литература). - ISBN 978-5-8114-1638-7.

   Тепловое воздействие электронного зонда при рентгеноспектральном наноанализе / Амрастанов А. Н., Кузин А. Ю., Митюхляев В. Б., Серегина Е. В., Степович М. А., Тодуа П. А. // Измерительная техника. - 2017. - № 6. - С. 13-15.

   Формирование наноразмерных супрамолекулярных агрегатов в растворах цистеина и нитрата серебра / Комаров П. В., СанниковИ. П., Хижняк С. Д., Овчинников М. М., Пахомов П. М. // Российские нанотехнологии. - 2008. - Т. 3, № 11-12. - С. 130-135.

   Фотоэлектрический колориметр и его применение в химическом анализе / ред. Березовская Ф. И., Тартаковский И. С. ; сост. Давыдов А. Л. ; Днепропетровский гос. ун-т. - Днепропетровск, 1941. - 28 с. : рис., табл. - Библиогр. в конце брош.

Цепулин В. Г.
   Высокоскоростной спектрофотометрический метод измерения толщин многослойных пленочных структур : автореф. дис... ктн : 05. 11. 07 / Цепулин В. Г. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. (Нац. исслед. ун-т). - М., 2019. - 16 с.

Цепулин В. Г.
   Высокоскоростной спектрофотометрический метод измерения толщин многослойных пленочных структур : дис... ктн : 05. 11. 07 / Цепулин В. Г. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. (Нац. исслед. ун-т). - М., 2019. - 167 л. : ил. - Библиогр.: л. 158-167.