Расширенный поиск

Артемьев Б. В., Буклей А. А.
   Радиационный контроль : учебное пособие / Артемьев Б. В., Буклей А. А. ; Рос. о-во по неразрушающему контролю и технической диагностике ; общ. ред. Клюев В. В. - М. : Спектр, 2011. - 191 с. : ил. - (Диагностика безопасности). - Библиогр.: с. 190-191. - ISBN 978-5-904270-57-5.

Безуглый Б. А., Зыков А. Ю., Семенов С. В.
   Фототермокапиллярная диагностика приповерхностных дефектов в твердом теле под лакокрасочным покрытием / Безуглый Б. А., Зыков А. Ю., Семенов С. В. // Дефектоскопия. - 2008. - № 6. - С. 26-30.

Глазков Ю. А.
   Капиллярный контроль : учебное пособие / Глазков Ю. А. ; Рос. о-во по неразрушающему контролю и технической диагностике ; общ. ред. Клюев В. В. - М. : Спектр, 2011. - 143 с. : ил. - (Диагностика безопасности). - Библиогр.: с. 142-143. - ISBN 978-5-904270-50-6.

Глазков Ю. А., Пономарева О. В., Хролова О. Р.
   Технологические особенности контроля деталей капиллярным люминесцентным методом ЛЮМ33-ОВ / Глазков Ю. А., Пономарева О. В., Хролова О. Р. // Дефектоскопия. - 2006. - № 11. - С. 74-80.

Глазков Ю. А.
   Технологические особенности подготовки деталей к контролю капиллярными люминесцентными методами / Глазков Ю. А. // Дефектоскопия. - 2006. - № 8. - С. 72-80.

Деленковский Н. В.
   Электрохимическая обработка сварных швов перед капиллярным контролем / Деленковский Н. В. // Дефектоскопия. - 2007. - № 5. - С. 93-97.

Деордиев Г. И.
   Модернизация аппаратуры контроля повреждений изоляции газопроводов / Деордиев Г. И. // Дефектоскопия. - 2007. - № 5. - С. 88-92.

   Дистанционный радиационный контроль с линейными ускорителями : в 2 т. - М. : Машиностроение, 2012.
   Т. 2 : Комплексы радиационного контроля / Богданович Б. Ю., Нестерович А. В., Шиканов А. Е. [и др.]. - 2012. - 283 с., [2] с. фот. : ил. - Библиогр.: с. 257-279. - ISBN 978-5-94275-624-6.

Золотаревский С. Ю.
   Метрологическое обеспечение параметров шероховатости поверхностей в нанометровом диапазоне методами интерферометрии высокого разрешения : [учебное пособие] / Золотаревский С. Ю. ; ред. Киселев М. И. - М. : Университетская книга, 2016. - 197 с. : ил. - Библиогр.: с. 186-197. - ISBN 978-5-98699-198-6.

Золотаревский С. Ю.
   Обеспечение единства измерений геометрических параметров шероховатости поверхностей в нанометровом диапазоне методами интерферометрии высокого разрешения : автореф. дис... дтн : 05. 11. 15 / Золотаревский С. Ю. ; Всерос. НИИ метрологической службы. - М., 2015. - 32 с. : ил.