Личный кабинет
Подробное описание документа
Статья
Вагулина Е. В.
Результаты исследования планарных опаловых структур методами сканирующей туннельной микроскопии / Вагулина Е. В., Сырицкий А. Б., Панфилова Е. В. // Наноинженерия. - 2015. - № 1. -
620.187 Электронно-микроскопические методы исследования
Статья опубликована в следующих изданиях
с. 3-6
Журнал
Наноинженерия.
№ 1. - 2015.
№ 1. - 2015.
Похожие издания
Статья
Вагулина Е. В., Сырицкий А. Б., Панфилова Е. В.
Результаты исследования планарных опаловых структур методами сканирующей туннельной микроскопии / Вагулина Е. В., Сырицкий А. Б., Панфилова Е. В. // Высокие технологии в промышленности России (материалы и устройства функциональной электроники и микрофотоники) : материалы 19 Международной научно-технической конф., Москва, 11-13 сентября 2014 г. Тонкие пленки в электронике : материалы 26 Международной научно-технической конф., Москва, 11-13 сентября 2014 г. Наноинженерия : материалы 6 Международной нучно-технической конф., Москва, 11-13 сентября 2014 г. / [к сб.в целом] МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2014. -С. 320-325 .
Результаты исследования планарных опаловых структур методами сканирующей туннельной микроскопии / Вагулина Е. В., Сырицкий А. Б., Панфилова Е. В. // Высокие технологии в промышленности России (материалы и устройства функциональной электроники и микрофотоники) : материалы 19 Международной научно-технической конф., Москва, 11-13 сентября 2014 г. Тонкие пленки в электронике : материалы 26 Международной научно-технической конф., Москва, 11-13 сентября 2014 г. Наноинженерия : материалы 6 Международной нучно-технической конф., Москва, 11-13 сентября 2014 г. / [к сб.в целом] МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2014. -
