Расширенный поиск

Афонский А. А., Дьяконов В. П.
   Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике : [монография] / Афонский А. А., Дьяконов В. П. ; ред. Дьяконов В. П. - Москва : ДМК Пресс, 2011. - 687 с. : ил. - Библиогр.: с.679-687. - ISBN 978-5-94074-626-3.

Афонский А. А., Дьяконов В. П.
   Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике : [монография] / Афонский А. А., Дьяконов В. П. ; ред. Дьяконов В. П. - Москва : ДМК, 2012. - 687 с. - Библиогр.: с.679-686. - ISBN 978-5-94074-626-3.

   Многопараметровая диагностика микро-и наноструктур : [монография] / Биленко Д. И., Вениг С. Б., Терин Д. В. [и др.] ; Саратовский государственный университет им. Н. Г. Чернышевского. - Саратов : Изд-во Сарат. гос. ун-та, 2015. - 132 с. : ил. - Библиогр.: с.129-131. - ISBN 978-5-292-04350-8.