Подробное описание документа
Афонский А. А.
Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике : [монография] / Афонский А. А., Дьяконов В. П. ; ред. Дьяконов В. П. - М. : ДМК Пресс, 2011. - 687 с. : ил. - Библиогр.:
Первая в России монография по самым современным электронным электро- и радиоизмерениям и измерительным приборам, применяемым в научных исследованиях, тестировании и испытании устройств и систем микроэлектроники и нанотехнологий. Впервые подробно описаны средства измерений, применяемые в условиях крупносерийного микроэлектронного производства, и приборы ведущих в их разработке и производстве фирм: Keithley, Tektronix, Agilent Technologies, LeCroy, R&S и др. Особое внимание уделено анализу и генерации тестовых сигналов, измерению их параметров в области малых и сверхмалых времен, измерению сверхмалых токов и напряжений, анализу импеданса и иммитанса цепей, измерениям статических и динамических характеристик полупроводниковых приборов и интегральных микросхем и др. Является самым крупным обзором современных зарубежных и отечественных измерительных приборов на рынке России и мира. Для инженеров, научных работников, аспирантов, преподавателей и студентов вузов и университетов технического и классического типов.
1 экз.![]()
- Преподавательский абонемент ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
- Читальный зал ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
Похожие издания
Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике : [монография] / Афонский А. А., Дьяконов В. П. ; ред. Дьяконов В. П. - М. : ДМК, 2012. - 687 с. - Библиогр.:
