Расширенный поиск

Перевощиков В. А., Скупов В. Д.
   Особенности абразивной и химической обработки поверхности полупроводников : монография / Перевощиков В. А., Скупов В. Д. - Нижний Новгород : Изд-во Нижегородского ун-та, 1992. - 196 с. : рис., табл. - Библиогр.: с. 189-196. - ISBN 5-230-04179-X.

Поляков А. Н.
   Разработка катодолюминесцентных методов изучения физических свойств прямозонных полупроводниковых материалов : автореф. дис... кф-мн : 01. 04. 07 / Поляков А. Н. ; Калужский гос. ун-т им. К. Э. Циолковского. - М., 2011. - 16 с.

Поляков А. Н.
   Разработка катодолюминесцентных методов изучения физических свойств прямозонных полупроводниковых материалов : дис... кф-мн : 01. 04. 07 / Поляков А. Н. ; Калужский гос. ун-т им. К. Э. Циолковского. - Калуга, 2011. - 120 л. : ил. - Библиогр.: л. 105-120.

Пономарев С. В.
   Особенности термического расширения многокомпонентных халькогенидных соединений со структурой шпинели и халькопирита : автореф. дис... кф-мн : 01. 04. 07 / Пономарев С. В. ; Калужский гос. пед. ун-т им. К. Э. Циолковского. - М., 2008. - 16 с.

Пономарев С. В.
   Особенности термического расширения многокомпонентных халькогенидных соединений со структурой шпинели и халькопирита : дис... кф-мн : 01. 04. 07 / Пономарев С. В. ; Калужский гос. пед. ун-т им. К. Э. Циолковского. - Калуга, 2008. - 151 л. - Библиогр.: л. 119-132.

   Применение имплантации ионов кислорода и процесса твердофазной рекристаллизации для улучшения кристаллической структуры кремния на сапфире / Александров П. А., Демаков К. Д., Шемардов С. Г., Кузнецов Ю. Ю. // Нано- и микросистемная техника. - 2008. - № 3. - С. 54-56.

   Разработка методов субмикронной катодолюминесцентной диагностики прямозонных материалов полупроводниковой оптоэлектроники : отчёт о НИР (заключительный) / МГТУ. Калужский филиал ; рук. нир Степанович М. А. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2002. - 77 л. - Библиогр.: л. 76-77. - Шифр ОК-ФН3-01Ф. - Инв. № 02.200.204171.

   Разработка технологии синтеза алмазов в мягких условиях и исследование их полупроводниковых свойств : отчет о НИР (заключ.) / МГТУ. Каф. ФН-6-КФ ; рук. темы Федосеев И. В. - М., 1999. - 51 л. - Библиогр.: л. 48-51.

Рыков С. А.
   Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур : учеб. пособие для вузов / Рыков С. А. ; ред. Ильин В. И., Шик А. Я. - СПб. : Наука, 2001. - 52 с. : ил. - (Новые разделы физики полупроводников). - Библиогр.: с. 51. - ISBN 5-02-024956-4.

   Стойкость к биодеструкции нанокомпозитных материалов на основе хитозана / Нестеров С. Б., Нежметдинова Р. А., Елинсон В. М., Жуховицкий В. Г. // Наноинженерия. - 2013. - № 1. - С. 37-39.