Расширенный поиск

   Применение имплантации ионов кислорода и процесса твердофазной рекристаллизации для улучшения кристаллической структуры кремния на сапфире / Александров П. А., Демаков К. Д., Шемардов С. Г., Кузнецов Ю. Ю. // Нано- и микросистемная техника. - 2008. - № 3. - С. 54-56.

   Разработка методов субмикронной катодолюминесцентной диагностики прямозонных материалов полупроводниковой оптоэлектроники : отчёт о НИР (заключительный) / МГТУ. Калужский филиал ; рук. нир Степанович М. А. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2002. - 77 л. - Библиогр.: л. 76-77. - Шифр ОК-ФН3-01Ф. - Инв. № 02.200.204171.

   Разработка технологии синтеза алмазов в мягких условиях и исследование их полупроводниковых свойств : отчет о НИР (заключ.) / МГТУ. Каф. ФН-6-КФ ; рук. темы Федосеев И. В. - М., 1999. - 51 л. - Библиогр.: л. 48-51.

Рыков С. А.
   Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур : учеб. пособие для вузов / Рыков С. А. ; ред. Ильин В. И., Шик А. Я. - СПб. : Наука, 2001. - 52 с. : ил. - (Новые разделы физики полупроводников). - Библиогр.: с. 51. - ISBN 5-02-024956-4.

   Стойкость к биодеструкции нанокомпозитных материалов на основе хитозана / Нестеров С. Б., Нежметдинова Р. А., Елинсон В. М., Жуховицкий В. Г. // Наноинженерия. - 2013. - № 1. - С. 37-39.

Столяров М. А.
   Исследование процессов инжекционной модификации в структурах металл-диэлектрик-полупроводник и приборах на их основе : автореф. дис... ктн : 01. 04.-7 / Столяров М. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. Калужский фил. - М., 2007. - 16 с.

Столяров М. А.
   Исследование процессов инжекционной модификации в структурах металл-диэлектрик-полупроводник и приборах на их основе : дис... ктн : 01. 04. 07 / Столяров М. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. Калужский фил. - Калуга, 2007. - 163 л. - Библиогр.: л. 147-162.

   Субмикронная катодолюминесцентная диагностика прямозонных материалов полупроводниковой оптоэлектроники : отчет о НИР (промежут.) / МГТУ. Фил. в Калуге ; рук. темы Степович М. А. - М., 2000. - 106 л.

   Субмикронная катодолюминесцентная диагностика прямозонных материалов полупроводниковой оптоэлектроники : отчёт о НИР (заключительный) / МГТУ им. Н. Э. Баумана. Калужский фил. ; рук. нир Степович М. А. - М., 2001. - 69 л. - Библиогр.: л. 65-69. - Шифр ОК-ФН3-00Ф. - ГР 01200002393. - Инв. № 02.2.00104557.

   Субмикронная электроннозондовая диагностика материалов и структур микро- и наноэлектроники : отчёт о НИР (заключительный) / МГТУ им. Н. Э. Баумана. Калужский фил. ; рук. темы Степанович М. А. - М., 2003. - 96 л. - Библиогр.: л. 89-97. - Шифр ОК-ФН3-02Ф. - Инв. № 02.20.0302542.