Подробное описание документа
Журнал
Нано- и микросистемная техника.
№ 4. - 2008.
1 экз.
Содержание
с. 2-8
Статья
Зеленограду - 50 лет( юбилей наукограда )
с. 9-13
Статья
Гольцова М. М., Юдинцев В. А.
МЭМС: большие рынки малых устройств / Гольцова М. М., Юдинцев В. А.
МЭМС: большие рынки малых устройств / Гольцова М. М., Юдинцев В. А.
с. 13-16
Статья
Исследование закономерностей транспорта водорода в порошковый кремний / Ковалевский А. А., Лабунов В. А., Строгова А. С., Шевченок А. А.
с. 17-22
Статья
Мустафаев Ар. Г., Мустафаев Аб. Г.
Проблемы масштабирования затворного диэлектрика для МОП-технологии / Мустафаев Ар. Г., Мустафаев Аб. Г.
Проблемы масштабирования затворного диэлектрика для МОП-технологии / Мустафаев Ар. Г., Мустафаев Аб. Г.
с. 22-24
Статья
Оптические спектры пленок BiPS4 на стекле и Si при фазовых переходах / Мясникова Т. П., Гершанов В. Ю., Захарченко И. Н., Гармашов С. И.
с. 24-27
Статья
Непочатенко В. А.
Ориентационное согласование фаз при формировании тонкой фазовой границы в несобственных сегнетоэластиках / Непочатенко В. А.
Ориентационное согласование фаз при формировании тонкой фазовой границы в несобственных сегнетоэластиках / Непочатенко В. А.
с. 28-30
Статья
Астахов М. В., Дутов И. В., Родин А. О.
Взаимодействие аморфного ферроманитного микропровода с электромагнитным излучением / Астахов М. В., Дутов И. В., Родин А. О.
Взаимодействие аморфного ферроманитного микропровода с электромагнитным излучением / Астахов М. В., Дутов И. В., Родин А. О.
с. 30-34
Статья
Лихошерст В. В., Распопов В. Я.
Контур жесткой обратной связи в микромеханических приборах и расчет его параметров / Лихошерст В. В., Распопов В. Я.
Контур жесткой обратной связи в микромеханических приборах и расчет его параметров / Лихошерст В. В., Распопов В. Я.
с. 34-39
Статья
Никулин А. В.
Анализ влияния геометрических размеров упругих элементов на собственные параметры микромеханических гироскопов LL-типа / Никулин А. В.
Анализ влияния геометрических размеров упругих элементов на собственные параметры микромеханических гироскопов LL-типа / Никулин А. В.
с. 40-44
Статья
Карташев В. А., Карташев В. В.
Исследование процесса электрохимической заточки иглы туннельного микроскопа / Карташев В. А., Карташев В. В.
Исследование процесса электрохимической заточки иглы туннельного микроскопа / Карташев В. А., Карташев В. В.
с. 45-48
Статья
Спектроскопия упругого отражения электронов как метод анализа элементного состава наноразмерных систем / Пронин В. П., Пономарев А. Н., Хинич И. И., Чистотин И. А.