Личный кабинет
Подробное описание документа
Технология производства оптико-электронных приборов : сборник статей / ред. Семибратов М. Н. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МВТУ им. Н. Э. Баумана, 1972. - 125 с. : рис., граф., схемы. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 155). - Библиогр.
621.38 Электроника. Фотоэлектроника. Электронные лампы. Трубки. Рентгенотехника. Ускорители частиц1 экз.
Вы можете получить данный документ в одном из следующих отделов
- Преподавательский абонемент ауд.313, ГУК, ауд. 313
- Читальный зал ауд.313, ГУК, ауд. 313
Содержание
с. 5-15
Статья
Семибратов М. Н., Ефремов А. А.
Формообразование асферических поверхностей квазисвободной притиркой / Семибратов М. Н., Ефремов А. А.
Формообразование асферических поверхностей квазисвободной притиркой / Семибратов М. Н., Ефремов А. А.
с. 15-24
Статья
Подобрянский А. В., Горшков В. А., Чучаев В. В.
Некоторые вопросы технологии изготовления объектива с асферической поверхностью / Подобрянский А. В., Горшков В. А., Чучаев В. В.
Некоторые вопросы технологии изготовления объектива с асферической поверхностью / Подобрянский А. В., Горшков В. А., Чучаев В. В.
с. 25-34
Статья
Быков Б. З.
Зависимость между коэффициентами покрытия сферической и плоской поверхностей / Быков Б. З.
Зависимость между коэффициентами покрытия сферической и плоской поверхностей / Быков Б. З.
с. 35-44
Статья
Горелик Б. Д.
Структура поверхностного слоя стекла, обработанного алмазными притирами / Горелик Б. Д.
Структура поверхностного слоя стекла, обработанного алмазными притирами / Горелик Б. Д.
с. 44-49
Статья
Михнев Р. А.
Критерии оценки станков для обработки оптических деталей по управляемым процессам формообразования / Михнев Р. А.
Критерии оценки станков для обработки оптических деталей по управляемым процессам формообразования / Михнев Р. А.
с. 49-56
Статья
Семибратов М. Н., Сальников Ю. В., Чучаев В. В.
Управление процессом формообразования оптических поверхностей методом термического испарения вещества в вакууме / Семибратов М. Н., Сальников Ю. В., Чучаев В. В.
Управление процессом формообразования оптических поверхностей методом термического испарения вещества в вакууме / Семибратов М. Н., Сальников Ю. В., Чучаев В. В.
с. 56-60
Статья
Зубарев В. Е., Подобрянский А. В.
Автоколлимационная схема контроля асферических поверхностей / Зубарев В. Е., Подобрянский А. В.
Автоколлимационная схема контроля асферических поверхностей / Зубарев В. Е., Подобрянский А. В.
с. 60-68
Статья
Штандель С. К., Румянцев В. В.
Прибор контроля эллипсоидных отражающих поверхностей / Штандель С. К., Румянцев В. В.
Прибор контроля эллипсоидных отражающих поверхностей / Штандель С. К., Румянцев В. В.
с. 69-72
Статья
Чучаев В. В.
Методика расчета параметров устройств для достижения заданного распределения толщины слоев покрытий / Чучаев В. В.
Методика расчета параметров устройств для достижения заданного распределения толщины слоев покрытий / Чучаев В. В.
с. 72-78
Статья
Ягодкина Т. А., Дмитриева Е. Д.
Метод получения интерференционных клиновых светофильтров для области спектра 0, 4-5 мкм / Ягодкина Т. А., Дмитриева Е. Д.
Метод получения интерференционных клиновых светофильтров для области спектра 0, 4-5 мкм / Ягодкина Т. А., Дмитриева Е. Д.
с. 79-83
Статья
Ягодкина Т. А., Дмитриева Е. Д.
Клиновые отрезающие системы для области спектра 1-5 мкм / Ягодкина Т. А., Дмитриева Е. Д.
Клиновые отрезающие системы для области спектра 1-5 мкм / Ягодкина Т. А., Дмитриева Е. Д.
с. 83-88
Статья
Скоростное полирование оптических деталей / Михнев Р. А., Коваленко А. Ф., Журавлев П. Б., Смирнов В. Ф.
с. 88-98
Статья
Савостин Т. Д.
Станок для изготовления асферических поверхностей оптических деталей / Савостин Т. Д.
Станок для изготовления асферических поверхностей оптических деталей / Савостин Т. Д.
с. 98-103
Статья
Перов В. А., Подобрянский А. В.
Сравнительный анализ методов контроля оптических асферических поверхностей / Перов В. А., Подобрянский А. В.
Сравнительный анализ методов контроля оптических асферических поверхностей / Перов В. А., Подобрянский А. В.
с. 103-106
Статья
Матвеев В. И., Сальников Ю. В.
Способ измерения толщин тонких диэлектрических пленок в процессе их напыления в вакууме / Матвеев В. И., Сальников Ю. В.
Способ измерения толщин тонких диэлектрических пленок в процессе их напыления в вакууме / Матвеев В. И., Сальников Ю. В.
с. 106-112
Статья
Ефремов А. А., Тисков А. В.
Методика исследования распределения давления под каблуками эластичных инструментов / Ефремов А. А., Тисков А. В.
Методика исследования распределения давления под каблуками эластичных инструментов / Ефремов А. А., Тисков А. В.
с. 112-117
Статья
Чучаев В. В.
Методика расчета зонных масок / Чучаев В. В.
Методика расчета зонных масок / Чучаев В. В.
с. 117-124
Статья
Шапочкин Б. А., Сергеев В. Н.
О форме поверхности планоидного зеркала без оси симметрии и возможности его изготовления вакуумной асферизацией / Шапочкин Б. А., Сергеев В. Н.
О форме поверхности планоидного зеркала без оси симметрии и возможности его изготовления вакуумной асферизацией / Шапочкин Б. А., Сергеев В. Н.
