Толстогузов Виктор Леонидович

Арефьев А. П., Толстогузов В. Л.
   Субдифракционный метод обнаружения и измерения размеров микрочастиц / Арефьев А. П., Толстогузов В. Л. // Системы управления полным жизненным циклом высокотехнологичной продукции в машиностроении: новые источники роста : материалы III Всероссийской научно-практической конф., Москва, 6 октября 2020 г. / МГТУ им. Н. Э. Баумана (Нац. исслед. ун-т). - М., 2020. - С. 45-50.

   Широкоапертурная асферическая оптика для формирования субволновой каустики пучка терагерцового электромагнитного излучения / Черномырдин Н. В., Щадько А. О., Лебедев С. П., Спектор И. Е., Толстогузов В. Л., Кучерявенко А. С., Малахов К. М., Командин Г. А., Горелик В. С., Зайцев К. И. // Оптика и спектроскопия. - 2018. - Т. 124, № 3. - С. 420-428.

   Оценка погрешностей измерения толщин многослойных пленочных покрытий методом спектральной рефлектометрии / Цепулин В. Г., Толстогузов В. Л., Степанов Р. О., Карасик В. Е. // Вестник МГТУ им. Н. Э. Баумана. Сер. Приборостроение. - 2017. - № 3. - С. 4-12.

   Измерение распределения толщин многослойных пленочных структур методами спектральной рефлектометрии / Цепулин В. Г., Толстогузов В. Л., Карасик В. Е., Перчик А. В., Арефьев А. П. // Вестник МГТУ им. Н. Э. Баумана. Сер. Приборостроение. - 2016. - № 3. - С. 3-12.