Герб МГТУ им. Н.Э. БауманаНаучно-техническая библиотека МГТУ им. Н.Э. Баумана

Зайончковский Вячеслав Станиславович

Статьи

   Статья в журнале
Зайончковский В. С., Аунг Чжо Чжо, Андреев А. В.
   Исследование морфологии поверхности тонких металлических пленок с магнитными слоями Fe-Cr-Co / Зайончковский В. С., Аунг Чжо Чжо, Андреев А. В. // Электромагнитные волны и электронные системы. - 2020. - Т. 25, № 1-2. - С. 69-75.
   Статья в журнале
   Реализация структуры чувствительного элемента Холла / Гусев В. И., Аунг Чжо Чжо, Егорова О. Ю., Зайончковский В. С., Парамонов В. В. // Электромагнитные волны и электронные системы. - 2019. - Т. 24, № 1. - С. 52-56.
   Статья в журнале
   Исследование силового взаимодействия магнитной системы «хальбаховского» типа с ферромагнитным кольцом / Петрова Д. О., Ливанов А. Е., Зайончковский В. С., Коновалов В. Н., Котунов В. В. // Электромагнитные волны и электронные системы. - 2018. - Т. 23, № 2. - С. 59-63.
   Статья в журнале
   Простой вибромагнетометр / Зайончковский В. С., Аунг Чжо Чжо, Егорова О. Ю., Быков П. А. // Электромагнитные волны и электронные системы. - 2017. - Т. 22, № 2. - С. 23-26.
   Статья в журнале
   Анализ омического контакта системы титан-никель с сильно легированным кремнием N-типа / Лазарев Н. С., Зайончковский В. С., Расторгуев И. А., Скипер А. В. // Электромагнитные волны и электронные системы. - 2016. - Т. 21, № 5. - С. 8-10.
   Статья в журнале
   Исследование толщин и однородности выращивания пленок диоксида кремния методом ИК-спектральной эллипсометрии / Макеев М. О., Иванов Ю. А., Зайончковский В. С., Быков П. А. // Наноинженерия. - 2015. - № 3. - С. 3-6.
   Статья в журнале
Захаров П. С., Зайончковский В. С., Баскаков Е. Б.
   Свойства проводящего канала в тонких пленках субоксида кремния / Захаров П. С., Зайончковский В. С., Баскаков Е. Б. - DOI 10.18698/2308-6033-2013-6-797 // Инженерный журнал: наука и инновации. - 2013. - № 6. - П.Н. 34.
   Статья в журнале
Захаров П. С., Зайончковский В. С., Баскаков Е. Б.
   Исследование границы металлизации микроэлектронных структур с помощью конфокальной микроскопии / Захаров П. С., Зайончковский В. С., Баскаков Е. Б. - DOI 10.18698/2308-6033-2013-6-808 // Инженерный журнал: наука и инновации. - 2013. - № 6. - П.Н. 45.
   Аналитическое описание
   Технология напыления тонких пленок Ti-Ni-Ag / Баскаков Е. Б., Петраков А. В., Захаров П. С., Проколкин Е. В., Зайончковский В. С. // Наукоемкие технологии в приборо- и машиностроении и развитие инновационной деятельности в вузе : материалы Всерос. научно-техн. конф., 4-6 декабря 2012 г. / МГТУ им. Н. Э. Баумана, Калужский филиал. - 2012. - Т. 3. - С. 12-13.