Цепулин Владимир Германович

   Оценка погрешностей измерения толщин многослойных пленочных покрытий методом спектральной рефлектометрии / Цепулин В. Г., Толстогузов В. Л., Степанов Р. О., Карасик В. Е. - DOI 10.18698/0236-3933-2017-3-4-12 // Вестник МГТУ им. Н. Э. Баумана. Сер. Приборостроение. - 2017. - № 3. - С. 4-12.

   Измерение распределения толщин многослойных пленочных структур методами спектральной рефлектометрии / Цепулин В. Г., Толстогузов В. Л., Карасик В. Е., Перчик А. В., Арефьев А. П. - DOI 10.18698/0236-3933-2016-3-3-12 // Вестник МГТУ им. Н. Э. Баумана. Сер. Приборостроение. - 2016. - № 3. - С. 3-12.

   Метод измерения распределения толщин ITO-покрытий с помощью акустооптического видеоспектрометра / Перчик А. В., Толстогузов В. Л., Стасенко К. В., Цепулин В. Г. - DOI 10.18698/2308-6033-2013-9-915 // Инженерный журнал: наука и инновации. - 2013. - № 9. - П.Н. 37.