536 записей
Проектирование технологических процессов изготовления интегральных микросхем : учеб. пособие по курсу "Технология приборостроения" / МГТУ им. Н. Э. Баумана. - Москва : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2003.
Ч. III : Полирование подложек интегральных микросхем / Данилов И. И., Назаров Н. Г., Шалаев В. А. - 2003. - 17 с. : ил. - Библиогр.в конце брош. - ISBN 5-7038-2264-5 .
Ч. III : Полирование подложек интегральных микросхем / Данилов И. И., Назаров Н. Г., Шалаев В. А. - 2003. - 17 с. : ил. - Библиогр.
Пучков Н. А.
Зарубежные интегральные микросхемы и их отечественные аналоги : справочник / Пучков Н. А. - Москва : Машиностроение, 1993. - 186 с. : ил. -ISBN 5-217-02620-0 .
Зарубежные интегральные микросхемы и их отечественные аналоги : справочник / Пучков Н. А. - Москва : Машиностроение, 1993. - 186 с. : ил. -
Рабаи Ж. М., Чандракасан А., Николич Б.
Цифровые интегральные схемы. Методология проектирования : пер. с англ. / Рабаи Ж. М., Чандракасан А., Николич Б. ; пер. Назаренко А. В. - 2-е изд. - Москва : Изд. дом "Вильямс", 2007. - 911 с. ил. - Серия книг Prentice Hall по электронике и СБИС ред. серии Содини Ч. Г. -ISBN 978-5-8459-1116-2 .
Цифровые интегральные схемы. Методология проектирования : пер. с англ. / Рабаи Ж. М., Чандракасан А., Николич Б. ; пер. Назаренко А. В. - 2-е изд. - Москва : Изд. дом "Вильямс", 2007. - 911 с. ил. - Серия книг Prentice Hall по электронике и СБИС ред. серии Содини Ч. Г. -
Аналитическое описание
Радзышевская В. В., Андреев В. В.
Влияние дефектов ионной имплантации на характеристики кристаллов микросхем / Радзышевская В. В., Андреев В. В. // Наукоёмкие технологии в приборо- и машиностроении и развитие инновационной деятельности в вузе : материалы Всероссийской научно-технической конференции, Калуга, 19 - 21 ноября 2024 г. : в 2 т. / МГТУ им. Н. Э. Баумана. - 2025. - Т. 1. -С. 99-101 .
Влияние дефектов ионной имплантации на характеристики кристаллов микросхем / Радзышевская В. В., Андреев В. В. // Наукоёмкие технологии в приборо- и машиностроении и развитие инновационной деятельности в вузе : материалы Всероссийской научно-технической конференции, Калуга, 19 - 21 ноября 2024 г. : в 2 т. / МГТУ им. Н. Э. Баумана. - 2025. - Т. 1. -
Аналитическое описание
Радзышевская В. В., Андреев В. В.
Влияние теплового режима на работоспособность микросхемы однотактного таймера / Радзышевская В. В., Андреев В. В. // Наукоёмкие технологии в приборо- и машиностроении и развитие инновационной деятельности в вузе : материалы Региональной научно-технической конференции (Калуга, 23 - 25 апреля 2024 года) : в 2 т. / МГТУ им. Н. Э. Баумана. - 2025. - Т. 1. -С. 166-169 .
Влияние теплового режима на работоспособность микросхемы однотактного таймера / Радзышевская В. В., Андреев В. В. // Наукоёмкие технологии в приборо- и машиностроении и развитие инновационной деятельности в вузе : материалы Региональной научно-технической конференции (Калуга, 23 - 25 апреля 2024 года) : в 2 т. / МГТУ им. Н. Э. Баумана. - 2025. - Т. 1. -
Отчёт о НИР
Разработка вакуумных технологических методов формирования сверхтвердых нанокомпозитных материалов и исследование их свойств : отчёт о НИР (заключительный) / МГТУ. Каф. "Электронные технологи в машиностроении"(МТ-11) ; рук. НИР Панфилов Ю. В. - Москва : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2002. - 58 л. - Библиогр.: л.57-58 . - Шифр 0501016 . - Инв. № 02.20.0303268 .
Статья в журнале
Разработка парадигмы проектирования СБИС с учетом результатов конструкторско-технологического моделирования / Амирханов А. В., Гладких А. А., Глушко А. А., Макарчук В. В., Новоселов А. С., Родионов И. А., Шахнов В. А. // Датчики и системы. - 2013. - № 9. - С. 38-50 .
Диссертация
Ратников М. О.
Применение конвейеризированных генераторов контрольных кодов для проведения анализа сбоеустойчивости систем на основе ПЛИС : 2.3.2 Вычислительные системы и их элементы : дис... ктн / Ратников М. О. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - Москва, 2025. - 192 л. - Библиогр.:л.143-161 .
Применение конвейеризированных генераторов контрольных кодов для проведения анализа сбоеустойчивости систем на основе ПЛИС : 2.3.2 Вычислительные системы и их элементы : дис... ктн / Ратников М. О. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - Москва, 2025. - 192 л. - Библиогр.:
Автореферат диссертации
Ратников М. О.
Применение конвейеризированных генераторов контрольных кодов для проведения анализа сбоеустойчивости систем на основе ПЛИС : 2.3.2 Вычислительные системы и их элементы : автореф. дис... ктн / Ратников М. О. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - Москва, 2026. - 16 с. - Библиогр.:с.16 .
Применение конвейеризированных генераторов контрольных кодов для проведения анализа сбоеустойчивости систем на основе ПЛИС : 2.3.2 Вычислительные системы и их элементы : автореф. дис... ктн / Ратников М. О. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - Москва, 2026. - 16 с. - Библиогр.:
