Личный кабинет
227 записей
Энциклопедия технологии полупроводниковых материалов. Электронная структура и свойства полупроводников : пер. с англ. / ред. Джексон К. А., Шретер В. - Воронеж : Водолей, 2004.
Т. 2 : Технологические процессы / ред. пер. с англ. Домашевская Э. П. - 2011. - IX, 908 с. : ил. - Библиогр.в конце гл. - ISBN 978-5-9273-1883-4 .
Т. 2 : Технологические процессы / ред. пер. с англ. Домашевская Э. П. - 2011. - IX, 908 с. : ил. - Библиогр.
1 экз.
Рыков С. А.
Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур : учеб. пособие для вузов / Рыков С. А. ; ред. Ильин В. И., Шик А. Я. - СПб. : Наука, 2001. - 52 с. : ил. - (Новые разделы физики полупроводников). - Библиогр.:с. 51 . - ISBN 5-02-024956-4 .
Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур : учеб. пособие для вузов / Рыков С. А. ; ред. Ильин В. И., Шик А. Я. - СПб. : Наука, 2001. - 52 с. : ил. - (Новые разделы физики полупроводников). - Библиогр.:
7 экз.
Соколов И. А.
Расчёты процессов полупроводниковой технологии : учебное пособие для вузов / Соколов И. А. - М. : Металлургия, 1994. - 176 с. : ил. - Библиогр.:с. 176 . - ISBN 5-229-01063-0 .
Расчёты процессов полупроводниковой технологии : учебное пособие для вузов / Соколов И. А. - М. : Металлургия, 1994. - 176 с. : ил. - Библиогр.:
4 экз.
Белов К. П.
Электронные процессы в ферритах : монография / Белов К. П. - М. : Физический факультет МГУ, 1996. - 103 с. : ил. - Библиогр.:с. 93-100 .
Электронные процессы в ферритах : монография / Белов К. П. - М. : Физический факультет МГУ, 1996. - 103 с. : ил. - Библиогр.:
1 экз.
Перевощиков В. А., Скупов В. Д.
Особенности абразивной и химической обработки поверхности полупроводников : монография / Перевощиков В. А., Скупов В. Д. - Нижний Новгород : Изд-во Нижегородского ун-та, 1992. - 196 с. : рис., табл. - Библиогр.:с. 189-196 . - ISBN 5-230-04179-X .
Особенности абразивной и химической обработки поверхности полупроводников : монография / Перевощиков В. А., Скупов В. Д. - Нижний Новгород : Изд-во Нижегородского ун-та, 1992. - 196 с. : рис., табл. - Библиогр.:
1 экз.
Кинетические и оптические явления в сильных электрических полях в полупроводниках и наноструктурах : учебное пособие для вузов / Воробьев Л. Е., Данилов С. Н., Ивченко Е. Л. [и др.] ; общ. ред. Ильин В. И., Шик А. Я. - СПб. : Наука, 2000. - 157 с. прил. - (Новые разделы физики полупроводников). - Библиогр.: с. 156 . - ISBN 5-02-024928-9 .
4 экз.
Термостимулированная релаксация как метод исследования широкозонных полупроводников (обзор) / Адонин А. С., Бейсюк П. П., Бурачек В. Р. [и др.]. - М. : Техника-Про, 2000. - 95 с. : ил. - (Физика полупроводников. Электроника XXI века). - Библиогр.: с. 92-95 . - ISBN 5-8376-0015-9 .
6 экз.
Отчёт о НИР
Разработка методов субмикронной катодолюминесцентной диагностики прямозонных материалов полупроводниковой оптоэлектроники : отчёт о НИР (заключительный) / МГТУ. Калужский филиал ; рук. нир Степанович М. А. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2002. - 77 л. - Библиогр.: л. 76-77 . - Шифр ОК-ФН3-01Ф . - Инв. № 02.200.204171 .
1 экз.
Отчёт о НИР
Субмикронная электроннозондовая диагностика материалов и структур микро- и наноэлектроники : отчёт о НИР (заключительный) / МГТУ им. Н. Э. Баумана. Калужский фил. ; рук. темы Степанович М. А. - М., 2003. - 96 л. - Библиогр.: л. 89-97 . - Шифр ОК-ФН3-02Ф . - Инв. № 02.20.0302542 .
1 экз.
Отчёт о НИР
Субмикронная катодолюминесцентная диагностика прямозонных материалов полупроводниковой оптоэлектроники : отчёт о НИР (заключительный) / МГТУ им. Н. Э. Баумана. Калужский фил. ; рук. нир Степович М. А. - М., 2001. - 69 л. - Библиогр.: л. 65-69 . - Шифр ОК-ФН3-00Ф . - ГР 01200002393 . - Инв. № 02.2.00104557 .
1 экз.
