Расширенный поиск

Королева А. Н.
   Разработка научно-методических основ управления качеством базовых технологий, используемых при проектировании и производстве сверхбольших интегральных схем : 05. 27. 06-Технология и оборудование для производства полупроводников, материалов и приборов электронной техники : автореф. дис... ктн / Королева А. Н. ; Научно-исследовательский ин-т молекулярной электроники (АО "НИИМЭ"). - М., 2021. - 16 с.

Королева А. Н.
   Разработка научно-методических основ управления качеством базовых технологий, используемых при проектировании и производстве сверхбольших интегральных схем : 05. 27. 06-Технология и оборудование для производства полупроводников, материалов и приборов электронной техники : дис... ктн / Королева А. Н. ; Научно-исследовательский ин-т молекулярной электроники (АО "НИИМЭ"). - М., 2021. - 123 л. : табл. - Библиогр.: л. 107-116.

Аникин А. В.
   Технологическое обеспечение показателей качества пластин-подложек ИМС на основе совершенствования доводочных операций : 05. 11. 14 : дис... ктн / Аникин А. В. ; Моск. гос. открытый ун-т. - М., 2006. - 279 л. - Библиогр.: л. 222-232.

Аникин А. В.
   Технологическое обеспечение показателей качества пластин-подложек ИМС на основе совершенствования доводочных операций : 05. 11. 14 : автореф. дис... ктн / Аникин А. В. ; Моск. гос. открытый ун-т. - М., 2006. - 16 с.

Новиков И. С.
   Автоматизация размещения тепловыделяющих элементов в электронных модулях трехмерной компоновки на основе генетического алгоритма : автореф. дис... ктн : 05. 13. 12 / Новиков И. С. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2009. - 16 с.

Новиков И. С.
   Автоматизация размещения тепловыделяющих элементов в электронных модулях трехмерной компоновки на основе генетического алгоритма : дис... ктн : 05. 13. 12 / Новиков И. С. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2009. - 132 л. : ил. - Библиогр.: л. 113-123.

Смирнов К. К.
   Автоматизация проектирования функциональных тестов для технологической подготовки производства интегральных микросхем : дис... ктн : 05. 13. 12 / Смирнов К. К. ; Московский авиационный институт (национальный исследовательский университет). - М., 2021. - 181 л. : ил. - Библиогр.: л. 168-174.

Смирнов К. К.
   Автоматизация проектирования функциональных тестов для технологической подготовки производства интегральных микросхем : автореф. дис... ктн : 05. 13. 12 / Смирнов К. К. ; Московский авиационный институт (национальный исследовательский университет). - М., 2021. - 14 с. : ил.