Расширенный поиск

Королева А. Н.
   Разработка научно-методических основ управления качеством базовых технологий, используемых при проектировании и производстве сверхбольших интегральных схем : 05.27.06 Технология и оборудование для производства полупроводников, материалов и приборов электронной техники : автореф. дис... ктн / Королева А. Н. ; Научно-исследовательский институт молекулярной электроники (АО "НИИМЭ"). - Москва, 2021. - 16 с.

Королева А. Н.
   Разработка научно-методических основ управления качеством базовых технологий, используемых при проектировании и производстве сверхбольших интегральных схем : 05.27.06 Технология и оборудование для производства полупроводников, материалов и приборов электронной техники : дис... ктн / Королева А. Н. ; Научно-исследовательский институт молекулярной электроники (АО "НИИМЭ"). - Москва, 2021. - 123 л. : табл. - Библиогр.: л.107-116.

Аникин А. В.
   Технологическое обеспечение показателей качества пластин - подложек ИМС на основе совершенствования доводочных операций : 05.11.14 : дис... ктн / Аникин А. В. ; Московский государственный открытый университет. - Москва, 2006. - 279 л. - Библиогр.: л.222-232.

Аникин А. В.
   Технологическое обеспечение показателей качества пластин-подложек ИМС на основе совершенствования доводочных операций : 05.11.14 : автореф. дис... ктн / Аникин А. В. ; Московский государственный открытый университет. - Москва, 2006. - 16 с.

Новиков И. С.
   Автоматизация размещения тепловыделяющих элементов в электронных модулях трехмерной компоновки на основе генетического алгоритма : автореф. дис... ктн : 05.13.12 / Новиков И. С. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - Москва, 2009. - 16 с.

Новиков И. С.
   Автоматизация размещения тепловыделяющих элементов в электронных модулях трехмерной компоновки на основе генетического алгоритма : дис... ктн : 05.13.12 / Новиков И. С. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - Москва, 2009. - 132 л. : ил. - Библиогр.: л.113-123.

Смирнов К. К.
   Автоматизация проектирования функциональных тестов для технологической подготовки производства интегральных микросхем : дис... ктн : 05.13.12 / Смирнов К. К. ; Московский авиац. ин-т (Национальный исслед. ун-т). - Москва, 2021. - 181 л. : ил. - Библиогр.: л.168-174.

Смирнов К. К.
   Автоматизация проектирования функциональных тестов для технологической подготовки производства интегральных микросхем : автореф. дис... ктн : 05.13.12 / Смирнов К. К. ; Московский авиац. ин-т (Национальный исслед. ун-т). - Москва, 2021. - 14 с. : ил.

Зикий Е. В.
   Исследование и разработка технологии формирования базовых слоёв сверхпроводниковых интегральных схем на основе тантала и ниобия : 2.2.3 Технология и оборудование для производства материалов и приборов электронной техники : автореф. дис... ктн / Зикий Е. В. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - Москва, 2025. - 15 с. : ил. - Библиогр.: с.15.

Зикий Е. В.
   Исследование и разработка технологии формирования базовых слоёв сверхпроводниковых интегральных схем на основе тантала и ниобия : 2.2.3 Технология и оборудование для производства материалов и приборов электронной техники : дис... ктн / Зикий Е. В. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - Москва, 2025. - 127 л. : ил.