Расширенный поиск

Григулис Ю. К.
   Электромагнитный метод анализа слоистых полупроводниковых и металлических структур / Григулис Ю. К. ; Академия наук Латвийской ССР, Физико-энергетический ин-т. - Рига : Зинатне, 1970. - 271 с., [2] л. ил. : ил. - Библиогр.: с. 267-270.

   Диэлектрики в наноэлектронике : [монография] / Гриценко В. А., Тысченко И. Е., Попов В. П., Перевалов Т. В. ; РАН, Ин-т физики полупроводников им. А. В. Ржанова ; отв. ред. Асеев А. Л. - Новосибирск : Изд-во СО РАН, 2010. - 257 с. : ил. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-7692-1081-5.

   Закономерности деформационного упрочнения кристаллических материалов, содержащих композиционные ансамбли дефектов / Вершинин Е. В., Глебов С. А., Власов В. Н., Рыбкин С. В. // Наукоемкие технологии. - 2014. - Т. 15, № 8. - С. 19-26.

   Закономерности равновесия и устойчивости узловых дислокационных конфигураций / Бобров Р. Б., Востров Н. Н., Проскурнин А. Н., Сидоров В. С., Логинов Б. М. // Наукоемкие технологии. - 2014. - Т. 15, № 8. - С. 3-12.

   Изучение возможностей использования электроннозондовых методов для субмикронной диагностики материалов и структур электронной техники : отчёт о НИР (заключительный) / МГТУ им. Н. Э. Баумана. Калужский фил. ; рук. темы Степович М. А. - М., 2003. - 140 л. - Библиогр.: л. 130-140. - Шифр Т00-2.2-852. - ГР 01200110405. - Инв. № 02.20.0303192.

   Исследование и разраб. катодолюминесцентного метода диагностики локальных электрофизич. параметров полупроводников : отчет о НИР (заключ.) / МГТУ. Фил. в Калуге ; рук. темы Степович М. А. - М., 2000. - 65 л.

   Исследование методами компьютерного моделирования наноскопических характеристик композиционных материалов / Коржавый А. П., Логинов Б. М., Логинова М. Б., Белов Ю. С., Рыбкин С. В. // Наукоемкие технологии. - 2017. - Т. 18, № 2. - С. 53-63.

   Исследование механических характеристик однослойных и многослойных наноструктур на основе углеродных и фторуглеродных покрытий / Елинсон В. М., Щур П. А., Кириллов Д. В., Лямин А. Н., Сильницкая О. А. // Поверхность: рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2018. - № 4. - С. 69-73.

   Исследование оптических свойств GaAs, выращенного методом молекулярно-лучевой эпитаксии при низких температурах роста, с delta-легированными слоями Si / Лаврухин Д. В., Ячменев А. Э., Бугаев А. С., Галиев Г. Б., Климов Е. А., Хабибуллин Р. А., Пономарев Д. С., Мальцев П. П. // Физика и техника полупроводников. - 2015. - Т. 49, № 7. - С. 932-935.

   Исследование свойств полимерных композиционных материалов на основе углеродных волокон и нанотрубок / Коржавый А. П., Логинов Б. М., Логинова М. Б., Белов Ю. С. // Наукоемкие технологии. - 2014. - Т. 15, № 2. - С. 47-60.