388 записей
Атаев Д. И., Болотников В. А.
Аналоговые интегральные микросхемы для бытовой радиоаппаратуры : справочник / Атаев Д. И., Болотников В. А. - 2-е изд. - М. : Изд-во МЭИ : ПКФ "Печатное дело", 1992. - 237 с. : ил. - Библиогр.в конце кн. - ISBN 5-7046-0028-X .
Аналоговые интегральные микросхемы для бытовой радиоаппаратуры : справочник / Атаев Д. И., Болотников В. А. - 2-е изд. - М. : Изд-во МЭИ : ПКФ "Печатное дело", 1992. - 237 с. : ил. - Библиогр.
Атаев Д. И., Болотников В. А.
Аналоговые интегральные микросхемы для телевизионной аппаратуры : справочник / Атаев Д. И., Болотников В. А. - М. : Изд-во МЭИ : Позитив, 1993. - 179 с. - Библиогр.в конце кн. - ISBN 5-7046-0091-3 .
Аналоговые интегральные микросхемы для телевизионной аппаратуры : справочник / Атаев Д. И., Болотников В. А. - М. : Изд-во МЭИ : Позитив, 1993. - 179 с. - Библиогр.
Афонский А. А., Дьяконов В. П.
Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике : [монография] / Афонский А. А., Дьяконов В. П. ; ред. Дьяконов В. П. - М. : ДМК Пресс, 2011. - 687 с. : ил. - Библиогр.:с. 679-687 . - ISBN 978-5-94074-626-3 .
Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике : [монография] / Афонский А. А., Дьяконов В. П. ; ред. Дьяконов В. П. - М. : ДМК Пресс, 2011. - 687 с. : ил. - Библиогр.:
Афонский А. А., Дьяконов В. П.
Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике : [монография] / Афонский А. А., Дьяконов В. П. ; ред. Дьяконов В. П. - М. : ДМК, 2012. - 687 с. - Библиогр.:с. 679-686 . - ISBN 978-5-94074-626-3 .
Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике : [монография] / Афонский А. А., Дьяконов В. П. ; ред. Дьяконов В. П. - М. : ДМК, 2012. - 687 с. - Библиогр.:
Статья
Аюпов А. Б., Марченко А. М.
Метод оптимизации трассируемости в аналитическом алгоритме стандартных ячеек / Аюпов А. Б., Марченко А. М. // Информационные технологии. - 2008. - № 3. -С. 12-17 .
Метод оптимизации трассируемости в аналитическом алгоритме стандартных ячеек / Аюпов А. Б., Марченко А. М. // Информационные технологии. - 2008. - № 3. -
Бабаян Р. Р.
Микроэлектронные устройства для обработки непрерывной информации / Бабаян Р. Р. ; РАН. Ин-т проблем управления им. В. А. Трапезникова. - М. : Наука, 2003. - 206 с. - Библиогр.:с. 202-205 . - ISBN 5-02-006527-7 .
Микроэлектронные устройства для обработки непрерывной информации / Бабаян Р. Р. ; РАН. Ин-т проблем управления им. В. А. Трапезникова. - М. : Наука, 2003. - 206 с. - Библиогр.:
Базовые матричные кристаллы и матричные БИС / Домрачев В. Г., Мальцев П. П., Новаченко И. В., Пономарев С. Н. - М. : Энергоатомиздат, 1992. - 224 с. : ил. - (Электроника: перспективная элементная база и применение). - Библиогр.: с. 223-224 . - ISBN 5-283-01597-1 .
Баклыков Д. А.
Исследование и разработка физико-технологических методов создания оптических микроэлектромеханических систем : 2. 2. 3-Технология и оборудование для производства материалов и приборов электронной техники : автореф. дис... ктн / Баклыков Д. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана (Национальный исследовательский университет). - М., 2024. - 17 с. : ил. - Библиогр.:с. 16-17 .
Исследование и разработка физико-технологических методов создания оптических микроэлектромеханических систем : 2. 2. 3-Технология и оборудование для производства материалов и приборов электронной техники : автореф. дис... ктн / Баклыков Д. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана (Национальный исследовательский университет). - М., 2024. - 17 с. : ил. - Библиогр.:
Баклыков Д. А.
Исследование и разработка физико-технологических методов создания оптических микроэлектромеханических систем : 2. 2. 3-Технология и оборудование для производства материалов и приборов электронной техники : дис... ктн / Баклыков Д. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана (Национальный исследовательский университет). - М., 2024. - 171 л. : ил. - Библиогр.:л. 151-171 .
Исследование и разработка физико-технологических методов создания оптических микроэлектромеханических систем : 2. 2. 3-Технология и оборудование для производства материалов и приборов электронной техники : дис... ктн / Баклыков Д. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана (Национальный исследовательский университет). - М., 2024. - 171 л. : ил. - Библиогр.:
Барабанов В. Ф., Пашковский М. Е., Подвальный С. Л.
Оперативная оценка стойкости полупроводниковых изделий к локальным радиационным эффектам : монография / Барабанов В. Ф., Пашковский М. Е., Подвальный С. Л. - Воронеж : Научная книга, 2012. - 128 с. : ил. - Библиогр.:с. 125-128 . - ISBN 978-5-98222-775-1 .
Оперативная оценка стойкости полупроводниковых изделий к локальным радиационным эффектам : монография / Барабанов В. Ф., Пашковский М. Е., Подвальный С. Л. - Воронеж : Научная книга, 2012. - 128 с. : ил. - Библиогр.: