130 записей
Высокие технологии в промышленности России (материалы и устройства функциональной электроники и микрофотоники): материалы XIV Междунар. науч. -техн. конф., Москва, 11-13 сентября 2008 г. Тонкие пленки в электронике : матералы XXI Междунар. симп., Москва, 11-13 сентября 2008 г. / Центральный научно-исследовательский технологический ин-т. - М. : Изд-во ЦНИТИ "ТЕХНОМАШ", 2008. - 501 с. : ил. - Библиогр. в конце ст. - ISBN 978-5-902740-11-7 .
Высокие технологии в промышленности России (материалы и устройства функциональной электроники и нанофотоники): материалы XV Междунар. научно-техн. конференции, Москва, 9-11 сентября 2009 г. Тонкие пленки в электронике : материалы XXII Междунар. симпозиума, Москва, 9-11 сентября 2009 г. : сборник / МГТУ им. Н. Э. Баумана, Центральный научно-исследовательский технологический институт "Техномаш". - М. : ЦНИТИ "Техномаш", 2009. - 535 с. : ил. - Библиогр. в конце ст. - ISBN 978-5-902740-19-3 .
Высокие технологии в пром-сти России (Материалы и устройства функциональной электрон. и микрофотоники): материалы XVI Междунар. науч.-техн. конф., Москва, 9-11 сентября 2010 г. Тонкие пленки в электрон. : материалы XXIII Междунар. симп., Москва, 9-11 сентября 2010 г. / МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во ЦНИТИ "ТЕХНОМАШ", 2010. - 465 с. : ил. - Библиогр. в конце ст. - ISBN 978-5-902740-14-8 .
Наноструктурные покрытия / ред. Кавалейро А., Хоссон Д. де ; пер. с англ. Хачоян А. В. ; ред. пер. Андриевский Р. А. - М. : Техносфера, 2011. - 750 с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-94836-182-6 .
Структура и свойства нанокомпозитных, гибридных и полимерных покрытий / Погребняк А. Д., Лозован А. А., Кирик Г. В. [и др.]. - М. : ЛИБРОКОМ : URSS, 2011. - 343 с. : ил. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-397-01578-3 .
Cushing D.
Enhanced Optical Filter Design / Cushing D. - Bellingham : SPIE Press, 2011. - 148 p. : ill. -ISBN 978-0-8194-8358-4 .
Enhanced Optical Filter Design / Cushing D. - Bellingham : SPIE Press, 2011. - 148 p. : ill. -
Высокие технологии в промышленности России (Материалы и устройства функциональной электроники и микрофотоники): материалы XVIII Междунар. научно-техн. конф. Тонкие пленки в электронике: материалы XXV Междунар. симп. Наноинженерия : материалы V Междунар. научно-техн. конф., Москва, МГТУ им. Н. Э. Баумана, 6-8 сентября 2012 г. / МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2012. - 457 с. : ил. - Библиогр. в конце ст. - ISBN 978-5-902740-18-6 .
Высокие технологии в промышленности России (материалы и устройства функциональной электроники и микрофотоники): материалы XVII междунар. научно-техн. конф., Москва, 8-10 сентября 2011 г. Тонкие пленки в электронике: материалы XXIV междунар. симп., Москва, 8-10 сентября 2011 г. Наноинженерия: материалы IV междунар. научно-техн. конф. Москва, 8-10 сентября 2011 г. : сборник / МГТУ им. Н. Э. Баумана, Центральный научно-исслед. технологический ин-т "ТЕХНОМАШ". - М. : Изд-во ОАО ЦНИТИ "Техмаш", 2011. - 528 с. : ил. - Библиогр. в конце ст. - ISBN 978-5-902740-16-2 .
Семенов В. С.
Тонкопленочные магнитные наноэлементы. Структура доменных границ в тонких магнитных пленках / Семенов В. С. - М. : URSS : ЛИБРОКОМ, 2012. - 263 с. : ил. - Библиогр.:с. 249-263 . - ISBN 978-5-397-02758-8 .
Тонкопленочные магнитные наноэлементы. Структура доменных границ в тонких магнитных пленках / Семенов В. С. - М. : URSS : ЛИБРОКОМ, 2012. - 263 с. : ил. - Библиогр.:
Альфорд Т. Л., Фельдман Л. К., Майер Дж. В.
Фундаментальные основы анализа нанопленок / Альфорд Т. Л., Фельдман Л. К., Майер Дж. В. ; МГУ им. М. В. Ломоносова. Науч. -образоват. центр по нанотехнологиям ; пер. с англ. Образцов А. Н., Долганов М. А. ; науч. ред. Образцов А. Н. - М. : Научный мир, 2012. - 390 с. : ил. - (Фундаментальные основы нанотехнологий: лучшие зарубежные учебники). - Библиогр.в конце гл. - ISBN 978-5-91522-225-9 .
Фундаментальные основы анализа нанопленок / Альфорд Т. Л., Фельдман Л. К., Майер Дж. В. ; МГУ им. М. В. Ломоносова. Науч. -образоват. центр по нанотехнологиям ; пер. с англ. Образцов А. Н., Долганов М. А. ; науч. ред. Образцов А. Н. - М. : Научный мир, 2012. - 390 с. : ил. - (Фундаментальные основы нанотехнологий: лучшие зарубежные учебники). - Библиогр.