494 записи
Булычев А. Л., Галкин В. И., Прохоренко В. А.
Аналоговые интегральные схемы : справочник / Булычев А. Л., Галкин В. И., Прохоренко В. А. - 2-е изд., перераб. и доп. - Минск : Беларусь, 1993. - 381 с. : рис. -ISBN 5-338-00858-0 .
Аналоговые интегральные схемы : справочник / Булычев А. Л., Галкин В. И., Прохоренко В. А. - 2-е изд., перераб. и доп. - Минск : Беларусь, 1993. - 381 с. : рис. -
Бутаков Е. А., Волынский М. Б., Новоселов В. Г.
Диагностика программируемых логических матриц / Бутаков Е. А., Волынский М. Б., Новоселов В. Г. - Москва : Радио и связь, 1991. - 157 с. - Библиогр.:с.155-156 . - ISBN 5-256-00457-3 .
Диагностика программируемых логических матриц / Бутаков Е. А., Волынский М. Б., Новоселов В. Г. - Москва : Радио и связь, 1991. - 157 с. - Библиогр.:
Бушминский И. П., Гудков А. Г., Дергачев В. Ф.
Конструкторское проектирование микросхем СВЧ : учебное пособие / Бушминский И. П., Гудков А. Г., Дергачев В. Ф. ; ред. Бушминский И. П. - Москва : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 1991. - 224 с. : рис., табл. - Библиогр.:с.221-222 . - ISBN 5-7038-0331-4 .
Конструкторское проектирование микросхем СВЧ : учебное пособие / Бушминский И. П., Гудков А. Г., Дергачев В. Ф. ; ред. Бушминский И. П. - Москва : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 1991. - 224 с. : рис., табл. - Библиогр.:
Быстров Ю. А., Мироненко И. Г.
Электронные цепи и микросхемотехника : учебник для вузов / Быстров Ю. А., Мироненко И. Г. - Москва : Высшая школа, 2002. - 383 с. : ил. - Библиогр.:с.382 . - ISBN 5-06-004040-2 .
Электронные цепи и микросхемотехника : учебник для вузов / Быстров Ю. А., Мироненко И. Г. - Москва : Высшая школа, 2002. - 383 с. : ил. - Библиогр.:
Быстродействующие матричные БИС и СБИС. Теория и проектирование / Файзулаев Б. Н., Шагурин И. И., Кармазинский А. Н. [и др.] ; общ. ред. Файзулаев Б. Н., Шагурин И. И. - Москва : Радио и связь, 1989. - 304 с. : ил., табл. - Библиогр.: с.297-303 . - ISBN 5-256-00255-4 .
Бюллетень новых разработок интегральных микросхем / ЦКБ "Дейтон" ; сост. Кулешова В. И., Глухова С. А., Виноградов И. Е. - Москва : Изд-во ЦКБ "Дейтон", 2014. - 93 с.
Статья в журнале
Вавилов В. Д., Глазков О. Н.
Математическая модель погрешностей и оборудование для статистических испытаний микросистемных акселерометров / Вавилов В. Д., Глазков О. Н. // Нано- и микросистемная техника. - 2008. - № 2. -С. 13-15 .
Математическая модель погрешностей и оборудование для статистических испытаний микросистемных акселерометров / Вавилов В. Д., Глазков О. Н. // Нано- и микросистемная техника. - 2008. - № 2. -
Валиев К. А.
Физика субмикронной литографии / Валиев К. А. - Москва : Наука, 1990. - 527 с. : рис. - Библиогр.в конце глав . - ISBN 5-02-014381-2 .
Физика субмикронной литографии / Валиев К. А. - Москва : Наука, 1990. - 527 с. : рис. - Библиогр.
Введение в процессы интегральных микро- и нанотехнологий : [учеб. пособие для вузов] : в 2 т. / общ. ред. Коркишко Ю. Н. - Москва : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2010. - (Нанотехнологии). - ISBN 978-5-9963-0341-0 .
Т. 1 : Физико-химические основы технологии микроэлектроники / Чистяков Ю. Д., Райнова Ю. П. - 2010. - 392 с. : ил. - Библиогр.:с.386-389 . - ISBN 978-5-9963-0335-9 .
Т. 1 : Физико-химические основы технологии микроэлектроники / Чистяков Ю. Д., Райнова Ю. П. - 2010. - 392 с. : ил. - Библиогр.:
Введение в процессы интегральных микро- и нанотехнологий : [учеб. пособие для вузов] : в 2 т. / общ. ред. Коркишко Ю. Н. - Москва : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2010. - (Нанотехнологии). - ISBN 978-5-9963-0341-0 .
Т. 2 : Технологические аспекты / Акуленок М. В., Андреев В. М., Громов Д. Г. [и др.]. - 2011. - 252 с. : ил. - Библиогр.:с.243-248 . - ISBN 978-5-9963-0336-6 .
Т. 2 : Технологические аспекты / Акуленок М. В., Андреев В. М., Громов Д. Г. [и др.]. - 2011. - 252 с. : ил. - Библиогр.:
