346 записей
Афонский А. А., Дьяконов В. П.
Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике : [монография] / Афонский А. А., Дьяконов В. П. ; ред. Дьяконов В. П. - М. : ДМК Пресс, 2011. - 687 с. : ил. - Библиогр.:с. 679-687 . - ISBN 978-5-94074-626-3 .
Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике : [монография] / Афонский А. А., Дьяконов В. П. ; ред. Дьяконов В. П. - М. : ДМК Пресс, 2011. - 687 с. : ил. - Библиогр.:
Афонский А. А., Дьяконов В. П.
Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике : [монография] / Афонский А. А., Дьяконов В. П. ; ред. Дьяконов В. П. - М. : ДМК, 2012. - 687 с. - Библиогр.:с. 679-686 . - ISBN 978-5-94074-626-3 .
Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике : [монография] / Афонский А. А., Дьяконов В. П. ; ред. Дьяконов В. П. - М. : ДМК, 2012. - 687 с. - Библиогр.:
Статья
Аюпов А. Б., Марченко А. М.
Метод оптимизации трассируемости в аналитическом алгоритме стандартных ячеек / Аюпов А. Б., Марченко А. М. // Информационные технологии. - 2008. - № 3. -С. 12-17 .
Метод оптимизации трассируемости в аналитическом алгоритме стандартных ячеек / Аюпов А. Б., Марченко А. М. // Информационные технологии. - 2008. - № 3. -
Бабаян Р. Р.
Микроэлектронные устройства для обработки непрерывной информации / Бабаян Р. Р. ; РАН. Ин-т проблем управления им. В. А. Трапезникова. - М. : Наука, 2003. - 206 с. - Библиогр.:с. 202-205 . - ISBN 5-02-006527-7 .
Микроэлектронные устройства для обработки непрерывной информации / Бабаян Р. Р. ; РАН. Ин-т проблем управления им. В. А. Трапезникова. - М. : Наука, 2003. - 206 с. - Библиогр.:
Барабанов В. Ф., Пашковский М. Е., Подвальный С. Л.
Оперативная оценка стойкости полупроводниковых изделий к локальным радиационным эффектам : монография / Барабанов В. Ф., Пашковский М. Е., Подвальный С. Л. - Воронеж : Научная книга, 2012. - 128 с. : ил. - Библиогр.:с. 125-128 . - ISBN 978-5-98222-775-1 .
Оперативная оценка стойкости полупроводниковых изделий к локальным радиационным эффектам : монография / Барабанов В. Ф., Пашковский М. Е., Подвальный С. Л. - Воронеж : Научная книга, 2012. - 128 с. : ил. - Библиогр.:
Белоус А. И., Емельянов В. А., Турцевич А. С.
Основы схемотехники микроэлектронных устройств / Белоус А. И., Емельянов В. А., Турцевич А. С. - М. : Техносфера, 2012. - 471 с. : ил. - (Мир электроники). - Библиогр.в конце гл. - ISBN 978-5-94836-307-3 .
Основы схемотехники микроэлектронных устройств / Белоус А. И., Емельянов В. А., Турцевич А. С. - М. : Техносфера, 2012. - 471 с. : ил. - (Мир электроники). - Библиогр.
Белоус А. И., Красников Г. Я., Солодуха В. А.
Основы проектирования субмикронных микросхем / Белоус А. И., Красников Г. Я., Солодуха В. А. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2021. - 780 с. : рис., табл. - (Мир электроники). - Библиогр.в конце глав . - ISBN 978-5-94836-603-6 .
Основы проектирования субмикронных микросхем / Белоус А. И., Красников Г. Я., Солодуха В. А. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2021. - 780 с. : рис., табл. - (Мир электроники). - Библиогр.
Статья
Беляев В.
МЭМС/МСТ в современной технике на примере автомобилестроения и авиации / Беляев В. // Нано- и микросистемная техника. - 2006. - № 5. -С. 36-44 .
МЭМС/МСТ в современной технике на примере автомобилестроения и авиации / Беляев В. // Нано- и микросистемная техника. - 2006. - № 5. -
Библиотека функциональных ячеек для проектирования полузаказных микросхем серий 5503 и 5507 : [пособие] / Денисов А. Н., Фомин Ю. П., Коняхин В. В., Фёдоров Р. А. ; Научно-производственный комплекс "Технологический центр" Московского гос. ин-та электронной техники ; общ. ред. Сауров А. Н. - М. : Техносфера, 2012. - 298 с. : ил. - (Мир электроники). - ISBN 978-5-94836-332-5 .
Богатырев Е. А., Ларин В. Ю., Лякин А. Е.
Энциклопедия электронных компонентов / Богатырев Е. А., Ларин В. Ю., Лякин А. Е. - М. : Макро Тим, 2006.
Т. 1 : Большие интегральные схемы. - 2006. - 245 с. -ISBN 5-9900833-1-9 .
Энциклопедия электронных компонентов / Богатырев Е. А., Ларин В. Ю., Лякин А. Е. - М. : Макро Тим, 2006.
Т. 1 : Большие интегральные схемы. - 2006. - 245 с. -