Расширенный поиск

Драгунов В. П., Остертак Д. И.
   Электростатические взаимодействия в МЭМС с плоскопараллельными электродами. Часть I. Расчет емкостей / Драгунов В. П., Остертак Д. И. // Нано- и микросистемная техника. - 2010. - № 7. - С. 37-41.

Драгунов В. П., Остертак Д. И.
   Электростатические взаимодействия в МЭМС с плоскопараллельными электродами. Часть II. Расчет электростатических сил / Драгунов В. П., Остертак Д. И. // Нано- и микросистемная техника. - 2010. - № 8. - С. 40-47.

Дракин А. Ю., Зотин В. Ф., Потапов Л. А.
   Контроль параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов : монография / Дракин А. Ю., Зотин В. Ф., Потапов Л. А. - СПб. : Лань, 2018. - 282 с. : ил. - (Учебники для вузов. Специальная литература) (Магистратура и аспирантура). - Библиогр.: с. 272-279. - ISBN 978-5-8114-3312-4.

Дронов Н. Н., Макарчук В. В., Макушина Н. В.
   Технологические процессы микроэлектроники : метод. указания к выполнению лаб. практикума / Дронов Н. Н., Макарчук В. В., Макушина Н. В. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2016. - 20 с. : ил. - Библиогр. в конце брош. - ISBN 978-5-7038-4358-1.

Егоров В. В.
   Влияние микронеровностей поверхности на характеристики изображений в оптических прецизионных измерителях. Скалярное приближение. Часть II. / Егоров В. В. // Нано- и микросистемная техника. - 2009. - № 4. - С. 26-31.

Ефимов И. Е., Козырь И. Я.
   Основы микроэлектроники : учебник / Ефимов И. Е., Козырь И. Я. - 3-е изд., стер. - СПб. : Лань, 2008. - 383 с. : ил. - (Учебники для вузов. Специальная литература). - Библиогр.: с. 381-382. - ISBN 978-5-8114-0866-5.

Ефимов И. Е., Козырь И. Я.
   Основы микроэлектроники : учебник / Ефимов И. Е., Козырь И. Я. - 3-е изд., стер. - СПб. : Лань, 2016. - 383 с. : ил. - (Учебники для вузов. Специальная литература). - Библиогр.: с. 381-382. - ISBN 978-5-8114-0866-5.

Жигалина О. М.
   Материалы микроэлектроники: тонкие пленки для интегрированных устройств : учеб. пособие / Жигалина О. М. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2017. - 121 с. : ил. - Библиогр.: с. 104-108. - ISBN 978-5-7038-4743-5.

Зайцев Н. А., Пастухова Ю. М.
   Модель поведения электронов в структуре сегнетоэлектрика / Зайцев Н. А., Пастухова Ю. М. // Нано- и микросистемная техника. - 2008. - № 2. - С. 43-45.

   Зарубежные интегральные микросхемы : справочник / сост. Соколов А. С. - М. : Дом Татьяны, 1992. - 96 с. : ил.