Расширенный поиск

Родионов А. М.
   Оценка методов расчета численности специалистов организационных структур управления предприятиями / Родионов А. М. // Сварочное производство. - 2007. - № 11. - С. 53-55.

Родионов В. Д., Терехов В. А., Яковлев В. Б.
   Технические средства АСУ ТП : учебное пособие для вузов / Родионов В. Д., Терехов В. А., Яковлев В. Б. ; общ. ред. Яковлев В. Б. - Москва : Высшая школа, 1989. - 262 с. : рис., схемы. - Библиогр.: с.258-259. - ISBN 5-06-000132-6.

Родионов Д. П., Гервасьева И. В., Хлебникова Ю. В.
   Текстурованные подложки из никелевых сплавов : [монография] / Родионов Д. П., Гервасьева И. В., Хлебникова Ю. В. ; РАН, Уральское отделение, Институт физики металлов. - Екатеринбург : РИО УрО РАН, 2012. - 106 с. : ил. - Библиогр.: с.102-106. - ISBN 978-5-7691-2291-0.

Родионов Е. М.
   Коробление отливок в процессе их изготовления и при механической обработке / Родионов Е. М. // Технологическое обеспечение качества приборов : сборник статей / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; ред. Сыроватченко П. В. - М., 1980. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 322). - С. 128-143.

Родионов И. А.
   Разработка литографических процессов изготовления СБИС с размерами элементов меньше длины волны экспонирующего излучения : автореф. дис... ктн : 05.11.14 / Родионов И. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - Москва, 2010. - 16 с.

Родионов И. А.
   Разработка литографических процессов изготовления СБИС с размерами элементов меньше длины волны экспонирующего излучения : дис... ктн : 05.11.14 / Родионов И. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - Москва, 2010. - 165 л. - Библиогр.: л.154-162.

Родионов И. А.
   Технологии интегральных устройств квантовой обработки информации : 2.2.3 Технология и оборудование для производства материалов и приборов электронной техники : 2.2.2 Электронная компонентная база микро- и наноэлектроники, квантовых устройств : автореф. дис... дтн / Родионов И. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - Москва, 2026. - 32 с. : рис. - Библиогр.: с.28-32.

Родионов И. А.
   Технологии интегральных устройств квантовой обработки информации : 2.2.3 Технология и оборудование для производства материалов и приборов электронной техники : 2.2.2 Электронная компонентная база микро- и наноэлектроники, квантовых устройств : дис... дтн / Родионов И. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - Москва, 2026. - 399 л. : рис., табл. - Библиогр.: л.366-399.

Родионов И. А., Шахнов В. А.
   Расчет значений весовых коэффициентов топологических структур для калибровки литографических моделей / Родионов И. А., Шахнов В. А. // Вестник МГТУ им. Н. Э. Баумана. Сер. Приборостроение. - 2010. - № спецвыпуск. - С. 149-160.

Родионов И. В.
   Аргонокислородное оксидирование костных титановых имплантатов / Родионов И. В. // Материаловедение. - 2009. - № 4. - С. 47-52.